宽谱段像散同时校正车尔尼-纳米波谱成像系统.docxVIP

宽谱段像散同时校正车尔尼-纳米波谱成像系统 1 基于平面光栅分辨力的像散校正技术 高光谱成像是在多光谱遥感技术的基础上发展起来的现代空间光学遥感设备。它能够通过高光谱分光法获得目标和景观的超多光谱段的图像，并在环境质量、海洋和陆地观测中得到广泛应用。高光谱成像仪光学系统由前置望远系统和光谱成像系统组成,通过入射狭缝将二者有机地结合在一起。地物目标经前置望远系统成像在入射狭缝上,再经光谱成像系统色散后按波长不同成像在面阵探测器的不同位置上,其中与入射狭缝高度平行的一维为空间维,与入射狭缝高度垂直的一维为光谱维。因此,要求光谱成像系统不仅具有高光谱分辨力,还要在狭缝高度方向上具有较高的空间分辨力。 光谱成像系统是高光谱成像仪的核心,采用的分光技术直接影响整个高光谱成像仪的性能、体积和质量等。以平面光栅作为色散元件的光谱成像系统因具有高光谱分辨力、色散均匀等优点而倍受关注。传统的车尔尼-特纳(CzernyTurner)光谱仪以平面光栅作为色散元件,已广泛应用于光栅单色仪和光谱辐射计等光谱仪器中,这类仪器的平面光栅处于准直光中,以光电倍增管等单通道探测器作为光电转换器件,入射狭缝上的一点在探测器上所成的像是一个像散线段,像散线段的长度方向沿狭缝长度方向。由于光电倍增管等单通道探测器的光敏面直径(通常≥20mm)远大于狭缝像在狭缝长度方向上的扩展;因此,传统的Czerny-Turner光谱仪通常并不校正像散,并且这类仪器是通过转动光栅输出不同波长的光谱辐射,通常只对中心波长校正像差。但是,由于采用面阵CCD等多通道探测器作为成像器件的高光谱成像仪要求空间分辨率,而CCD探测器的像元尺寸只有几个微米到几十个微米,像散的存在严重影响沿狭缝长度方向上的空间分辨率,因此必须充分校正像散。另外,光栅固定,要在宽谱段内获得良好的成像质量,还需要同时实现宽谱段像散的校正。显然,传统的车尔尼-特纳结构不能满足高光谱成像仪的要求。 本文基于像差理论,提出了一种改进的车尔尼-特纳光谱成像系统,将平面光栅置于发散光中,利用光栅产生的像散来补偿物镜产生的像散,推导了同时校正宽谱段像散的条件,并实现了宽谱段像散的同时校正。然后,详细分析了像差校正原理和方法,编制了初始结构快速计算程序。最后,设计了一个宽谱段像散同时校正的车尔尼-特纳光谱成像系统实例,并对设计结果进行了分析与评价。 2 像散校正条件 传统的Czerny-Turner结构光学系统原理如图1所示。采用两个凹球面镜分别作为准直镜和聚焦镜,平面光栅置于平行光中,由于对物镜的离轴入射,存在很大的像散。本文提出了一种改进的Czerny-Turner光谱成像系统,通过减小入射狭缝到准直镜的距离,使平面光栅处于发散光中,利用平面光栅产生的像散来补偿物镜产生的像散,从而达到校正像散的目的。 凹球面反射镜的离轴角为α/2,物距为l,则它在弧矢面和子午面内的像距分别表示为: 反射式平面衍射光栅在弧矢面(垂直于色散面)内的成像性质与平面反射镜相同,而在子午面(色散面)内满足光栅方程d(sin i+sinθ)=mλ,其中,d为光栅常数,i,θ分别为对光栅表面法线的入射角和衍射角,m为光谱级次,λ为波长。与凹球面反射镜类似,置于发散光中的平面光栅在弧矢面和子午面内的像距分别表示为: 忽略光栅与准直镜和聚焦镜的间距,对Czerny-Turner结构中的两球面反射镜和平面光栅应用公式(1)~(4),求得在弧矢面和子午面内的像距与聚焦镜的距离分别为: 式中,Lsc为入射狭缝到准直镜的距离。当弧矢像距Ss与子午像距St相等时,像散就不存在了。因此令Ss=St=Lfd(其中Lfd为聚焦镜到探测器的距离),得到像散的校正条件为: 由式(7)可以得到Lsc的初始参数值,Lsc的确切参数在光学设计软件中通过实际的光线追迹得到。从式(7)可以看出,像散校正条件与θ和α2有关,因此依赖于波长。此时,按传统将光栅置于聚焦镜的焦点附近,在光栅固定的条件下,只能在中心波长附近很窄的波段内(10nm)获得良好的成像质量。 3 光栅与聚焦镜的几何关系 当光栅置于发散光中时,根据光栅方程,波长λ不同,则衍射角θ的大小不同。从式(5)和(6)可以看出,衍射角θ的大小会直接影响子午像距St的大小,而且衍射角θ的改变,又会导致聚焦镜离轴角α2/2的变化和衍射光线与聚焦镜交点位置的变化,从而导致子午像距St、弧矢像距Ss及聚焦镜到探测器的传播距离Lfd的变化。从上面的分析可以看出,引起St,Ss和Lfd变化的根源在于衍射角θ的变化,因此,要实现宽波段像散的同时校正,要求子午像距St和弧矢像距Ss随衍射角θ的变化速率与聚焦镜到像面的距离Lfd随衍射角θ的变化速率相同,即 式中 式(5)两边对聚焦镜的离轴角α2/2求偏导数得 式(6)两边对衍射角θ求偏导数得 式(6