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l要求:
样品薄,
保持样品的精细结构
粉末样品
直接样品
块体样品
l方法
一级复型
间接样品 二级复型
萃取复型
直接样品
1)粉末样品的制备
2)块体样品的制备
1)粉末样品制备
• 关键:粉末颗粒的分散,独立而不团聚。
• 方法:
胶粉混合法
支持膜分散粉末法
2)块体样品的制备
•初减薄
•圆片切取
•预减薄
•终减薄
间接样品—复型法
ü易起变化的样品
ü难以制成电子束可
以透过的薄膜的试样
100nm
间接样品—复型法
利用一种薄膜 (如碳、塑料、氧化物薄膜)
将固体试样表面的浮雕复制下来的一种间接
样品。
只能作为试样形貌的观察和研究,而不
能用来观察试样的内部结构。
• 对复型材料的要求:
①复型材料本身必须是 “无结构”或非晶态的;
②有足够的强度和刚度,良好的导电、导热和
耐电子束轰击性能。
③分子尺寸应尽量小,提高复型分辨率,更深
入地揭示表面形貌的细节特征。
常用的材料:非晶碳膜,各种塑料薄膜。
间接样品—复型法
塑料一级复型
一级复型
碳一级复型
二级复型 塑料-碳二级复型
萃取复型
投影:
在复型表面制造一层密度比较大的元素膜,
造成厚度差 (约数nm厚),以改善复型图像
的衬度、判断凹凸情况和测定厚度差
投影材料常用
Cr: Chromium (铬)
Ge: Germanium (锗)
Au: Gold (金)
Pt: Platinum (铂)
Au-Pd投影
投影
明场像
暗场像
只有质厚衬度
碳支持膜的乳胶粒子形貌
1) 塑料一级复型
经过表面处理(如腐
蚀) 的试样表面上滴几滴
醋酸甲脂溶液,然后滴
一滴塑料溶液(常用火棉
胶),刮平,干后将塑料
膜剥离下来即成,薄膜
厚度约70-100nm,必要
时再进行投影。
优点:
制作简便;
不破坏样品表面
缺点:
衬度差;
易被电子束烧蚀和分解;
分辨率较低(约10~20nm) .
2) 碳一级复型
在真空镀膜装置中,将碳
棒以垂直方向,向样品表面
蒸镀10-20nm的碳膜;
用针尖将碳膜划成略小于
电镜铜网的小块;
将碳膜从试样上分离开来,
必要时投影。
优点:
分辨率较高(约2~5nm),
电子束照射下稳定性较好;
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