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x射线位相衬度成像的单色光学模式 x射线场成像是利用x射线折射效应引入的一种图像技术。它记录物体内不同组织结构信息,呈现清晰的X射线显微图像(包含传统成像记录不到的信息内容);可提供以轻元素为基材料的物质结构的二维或三维强度图。其独特优势是:空间分辨率在亚微米量级(可达0.3μm)、增强弱吸收特征衬度、具有对细胞成像能力;在硬X射线范围内,辐射剂量远小于吸收衬度成像;是生物、医学、材料科学、环境等领域一种新的独具本领的研究工具。比如,对肿瘤和软组织的检查,传统的X射线照相术能发现几个厘米尺度变化,如头、腹、骨盆等,分辨密度变化在0.01—0.05 g/cm3;现代最好的医学检查技术CT能发现1—2 mm尺度变化,分辨密度变化在0.01 g/cm3;X射线位相衬度成像能发现0.01—0.025 mm尺度变化,分辨密度变化在0.002—0.0003 g/cm3(理论值,由于极小密度差异的样品制备困难,实验证实为0.0005 g/cm3)。 这一新成像技术的出现,引起国际上广泛关注。尤其在同步辐射装置上不少国家利用自己优势,在好的光源特性、新型探测器和计算机条件下,将该技术与高空间分辨率、三维、相干束、原位、实时结合在一起,应用到物理、生物医学、材料和技术等研究领域的最前沿。本文介绍在北京同步辐射装置(BSRF)上,利用现有条件探索研究X射线位相衬度照相术,采用三种单色的光学模式,满足了不同尺寸样品对光源尺寸的需求,取得了初步结果。 1 位相衬度照相术 根据不同的光学配置,X射线位相衬度成像机制分为直接测量?、▽?(一阶导数)、▽2?(二阶导数)等不同的位相衬度,(这里?是X射线进入物体后所引入的位相变化),由此大致分为干涉法、衍射增强法、X射线位相衬度照相术等三种方式。 一般地讲,位相衬度需要相干光源,成像时要求空间相干面积大于等于样品面积。但由于X射线位相衬度照相术的成像机制,降低了对光源相干性的要求,所以只要求所研究样品内的物质边界两侧的局部X射线有空间相干性。同步辐射光源为局部空间相干光源,当光源尺寸为2σ,只有发散度2σ′满足空间相干条件2σ~2σ′~λ时,2σ′内的X射线才为空间相干。如图1所示。对于某一波长λ,当空间X光束具有横向相干即空间相干,指光束垂直于传播方向的相干性,则 相干宽度W(μm)为 式中,L为光源到样品的距离。 在硬X射线范围内,X射线折射角非常小,约10-6—10-7弧度,其折射率差异至多十万分之一。当X射线通过物体时的性能和传统光学一样,可用复合折射率n描述: 式中β(~10-10)为描述吸收,δ(~10-7)为与折射效应有关的相移项。如物体厚度为t(且成份、密度不变)、波长为λ时,吸收衬度来自于 位相衬度来自于 因此在吸收衬度难以探测时仍可探测到位相衬度。 基本原理如图2所示,一束同步辐射X射线束辐照并通过物体时,随折射率微小变化而以不同角度折射,引入了波前畸变,即引入X射线空间变化的相移。畸变波前进一步传播至适当距离,通过样品不同区域的X射线波前发生重叠,产生干涉加强、将不可见相移转换成可见强度变化。由此可见,该种成像是由X射线通过样品的折射和衍射的相互作用形成。相移信息能定义样品不同区域之间的边界,还能用于产生明锐的放大图像(含传统成像难以看到信息内容)。 X射线位相衬度照相术采用光源、样品、探测器同轴排列的光学配置。如探测器放在样品(样品尺度为a)后中等距离Z(Za),则为菲涅耳(Fresnel)衍射,成像衬度来自Fresnel衍射花样。这一种成像方式又被称之为“同轴位相衬度成像”,其成像面上的强度正比于位相φ的二阶导数: 这里f(x)为Fresnel衍射里给出的波函数,λ为X射线波长,Z为探测器与样品之间的距离。为获得清晰的图像,对于不同波长λ和感兴趣的物体特征尺寸?(空间频率倒数1/u),需随样品不同而调整探测器与样品之间距离,以获得最好的增强效应。已知位相衬度传递函数CTF达到极大值时, 所以Z可用下表示: 式中λ为X射线波长,?为物体特征尺度。 因此,X射线位相衬度照相术所获图像含典型边界特征的干涉条纹改善边界可见性,所以样品内明显边界的区域可由增强的边界位相衬度直接显示,无需影像图重构。其关键是光源相干性和成像距离。 2 入射光斑大小对mad2的影响 实验在中国科学院高能物理研究所北京同步辐射装置4W1A光束线形貌学实验站上进行。4W1A束线长达43 m,是一条白光束线,提供通常实验用能量范围3—22 ke V,水平方向接收张角为1 mrad,垂直方向接收0.36 mrad;束线出口处有一四刀狭缝,供选择入射光斑大小。4W1同步辐射光性能和光源点尺寸在储存环电子能量E=2.2 Ge V、束流强度Ie=100 m A时,光谱分布如图3所示。 用晶体Si(111)反射,波长为0.1