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《中国药典》0461X射线荧光光谱法：2020年版VS2025年版对比表
标题2020年版2025年版
注：为了方便对比，将20版的顺序进行了调整。
X射线荧光光谱法（XRF）是一种基于测量由初级X射线激发的原子内层电
X射线荧光光谱法（XRF）是一种基于测量由初级X射线激发的原子内层电
子产生特征次级X射线的分析方法。当X射线照射到供试品时，供试品中的
子产生特征次级X射线以确定样品中元素种类和含量的分析方法。当X射
各元素被激发而辐射出各自的荧光X射线。通过准直器经分光晶体分光，
线照射到供试品时，供试品中的各元素被激发而辐射出各自的X射线荧光
按照布拉格定律产生衍射，使不同波长的荧光X射线按照波长顺序排列成
。通过测量和分析供试品中产生的X射线荧光，即可获知样品中的元素组
光谱，不同波长的谱线由探测器在不同的衍射角上接收。根据测得谱线的
成，得到物质成分的定性和定量信息。
波长识别元素种类；根据元素特征谱线的强度与元素含量间的关系，计算
前言获得供试品中每种元素含量百分数，即为X射线荧光光谱分析法。
X射线荧光光谱法可用于液体、粉末及固体材料的定性、定量分析，X射
线荧光光谱仪可分为波长色散型（WD）和能量色散型（ED）。波长色散
型X射线荧光光谱仪功率大，荧光强度高，测量时间短，具有较高的测量
XRF可用于液体、粉末及固体材料的定性、定量分析。XRF仪可分为波长
精度，但需要对被测量样品进行简单处理，适用于原料、制剂的精确检测
色散型（WD）和能量色散型（ED）。
和质量控制；能量色散型X射线荧光光谱仪虽然测量精度稍差，但无需对
样品作特别复杂的处理而直接进行测量，对样品也没有任何损坏，因此可
直接用于生产过程控制。
1.对仪器一般要求
X射线荧光光谱仪主要由光源（X射线管）、分光系统和检测器等组件构
前言
成。
波长色散型和能量色散型X射线荧光光谱仪均使用X射线管产生X射线，作
（1）光源为X射线荧光光谱仪的光源，要求光源有足够的强度、连续的光谱、稳定
的光强。
波长色散型X射线荧光光谱仪的分光系统的主要部件是晶体分光器，
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