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- 2026-01-30 发布于重庆
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(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN116203743A(43)申请公布日2023.06.02
(21)申请号202111445048.X
(22)申请日2021.11.30
(71)申请人武汉光迅科技股份有限公司
地址430074湖北省武汉市洪山区邮科院
路88号
(72)发明人梁雪瑞陈宏刚张博罗勇
胡毅马卫东胡强高
(74)专利代理机构深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙)44341
专利代理师何婷
(51)Int.CI.
GO2F1/035(2006.01)
GO2F1/21(2006.01)
GO2F1/015(2006.01)
权利要求书2页说明书6页附图4页
(54)发明名称
一种硅基电光差分调制器及其制作方法
(57)摘要
CN116203743A本发明涉及光通信技术领域,提供了一种硅基电光差分调制器及其制作方法。所述N型掺杂区位于两条脊形波导之间,所述P型掺杂区分布式的设置在两条脊波导的外侧;其中,所述两条脊形波导共同构成所述脊形波导区;所述N型掺杂区和P型掺杂区覆盖了脊形波导的沟道结构和部分脊柱结构,留下了脊柱中心区域。本发明通过在波导的中心区进行补偿掺入P+型和N+型杂质,可实现调制效率更优的基于载流子色散效应的高速硅基电光调制器,同时补偿性掺杂对波导的光的吸收效应未有明显提升,调制效率的提升
CN116203743A
CN116203743A权利要求书1/2页
2
1.一种硅基电光差分调制器,包括脊形波导区(1),平板波导区(2),金属电极(3),其特征在于,还包括N型掺杂区(4)和P型掺杂区(5),具体的:
所述N型掺杂区(4)位于两条脊形波导之间,所述P型掺杂区(5)分布式的设置在两条脊波导的外侧;
其中,所述两条脊形波导共同构成所述脊形波导区(1);所述N型掺杂区(4)和P型掺杂区(5)覆盖了脊形波导的沟道结构和部分脊柱结构,留下了脊柱中心区域。
2.根据权利要求1所述的硅基电光差分调制器,其特征在于,包括:
N型掺杂区(4)包括N型高掺杂区N++(41),N型中掺杂区N+(42),第一N型低掺杂区N-(43),第二N型低掺杂区N(44)中的至少两个区;
P型掺杂区(5)包括P型高掺杂区P++(51),P型中掺杂区P+(52),第一P型低掺杂区P-(53),第二P型低掺杂区P(54)中的至少两个区。
3.根据权利要求2所述的硅基电光差分调制器,其特征在于,包括:
N型掺杂区(4)排布顺序依次为N型高掺杂区N++,N型中掺杂区N+,第一N型低掺杂区N-,第二N型低掺杂区N;
P型掺杂区(5)排布顺序依次为P型高掺杂区P++,P型中掺杂区P+,第一P型低掺杂区P-,第二P型低掺杂区P。
4.根据权利要求3所述的硅基电光差分调制器,其特征在于,对于N型掺杂区(4)和P型掺杂区(5)的掺杂浓度包括:
N型高掺杂的掺杂浓度C+=2e20/cm3,N型中掺杂区的掺杂浓度C?+=le19/cm3,第二N型低掺杂区的掺杂浓度C=2e18/cm3,第一N型低掺杂区的掺杂浓度Cn.=3e17/cm3;
P型高掺杂区的掺杂浓度C=2e20/cm3,P型中掺杂区的掺杂浓度Cp+=le19/cm3,第二P型低掺杂区的掺杂浓度Cp=2e18/cm3,第一P型低掺杂区的掺杂浓度Cp.=3e17/cm3。
5.根据权利要求1-4任一所述的硅基电光差分调制器,其特征在于,硅基电光调制器有源区掺杂浓度随着波导的位置分布,呈现出中心位置浓度低,两侧逐渐变高,然后再略有降低的趋势。
6.根据权利要求1-4任一所述的硅基电光差分调制器,其特征在于,脊形波导区(1)厚度大于等于220nm,平板波导区(2)厚度为大于等于70nm,平板波导区(2)厚度与脊形波导区(1)厚度比值小于等于0.5。
7.一种硅基电光差分调制器制作方法,其特征在于,包括:
制作出硅基电光差分调制器的脊波导区和平板波导区结构的晶圆上,进行至少两次光刻工艺,制作出N型掺杂区(4)和P型掺杂区(5);
所述N型掺杂区(4)位于两条脊形波导之间,所述P型掺杂区(5)分布式的设置在两条脊波导的外侧。
8.根据权利要求7所述的硅基电光差分调制器制作方法,其特征在于,制作N型掺杂区4具体包括:
第
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