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- 2026-02-08 发布于重庆
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(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN111933690A
(43)申请公布日2020.11.13
(21)申请号202011012348.4
(22)申请日2020.09.24
(71)申请人江苏宏微科技股份有限公司
地址213022江苏省常州市新北区华山中
路18号
(72)发明人张景超赵善麒
(74)专利代理机构常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙)32231
代理人陈红桥
(51)Int.CI.
HO1L29/06(2006.01)
H01L29/78(2006.01)
H01L21/336(2006.01)
权利要求书3页说明书11页附图15页
(54)发明名称
一种功率器件及其制作方法
(57)摘要
CN111933690A本发明涉及半导体技术领域,具体涉及一种功率器件,包括N基体、P-外延层和栅极,所述N基体上形成P-外延层,所述P-外延层内设有沟槽,所述P-外延层内形成有相互隔离的第一N+层和第二N+层,所述第一N+层电连接位于所述P-外延层表面的源极,所述第二N+层电连接位于所述N基体底部的漏极,所述栅极至少一部分形成在所述沟槽内,且所述栅极沿着所述第一N+层和第二N+层的排布方向延伸,当所述栅极施加开启电压时,所述第一N+层和第二N+层之间的P-沟道层形成横向的导电沟道。本发明提供的一种功率器
CN111933690A
CN111933690A权利要求书1/3页
2
1.一种功率器件,其特征在于,包括:
N基体(1),所述N基体(1)上形成P-外延层(2),所述P-外延层(2)内设有沟槽(21);
P-外延层(2),所述P-外延层(2)内形成有相互隔离的第一N+层(22)和第二N+层(23),所述第一N+层(22)电连接位于所述P-外延层(2)表面的源极(4),所述第二N+层(23)电连接位于所述N基体(1)底部的漏极(5);
栅极(211),所述栅极(211)至少一部分形成在所述沟槽(21)内,且所述栅极(211)沿着所述第一N+层(22)和第二N+层(23)的排布方向延伸,当所述栅极(211)施加开启电压时,所述第一N+层(22)和第二N+层(23)之间的P-沟道层(24)形成横向的导电沟道。
2.根据权利要求1所述的一种功率器件,其特征在于,所述第一N+层(22)和所述N基体(1)之间通过第一P+层(25)隔开,所述第一P+层(25)至少一部分形成在所述P-外延层(2)中或者至少一部分形成在所述N基体(1)中。
3.根据权利要求1所述的一种功率器件,其特征在于,所述第二N+层(23)和所述沟槽(21)的底部之间形成有第一P+层(25),所述第一P+层(25)包裹所述沟槽(21)的底部及底部侧边。
4.根据权利要求1所述的一种功率器件,其特征在于,所述第一N+层(22)的底端高于所述沟槽(21)的底端,且在所述P-外延层(2)中,位于所述沟槽(21)的底部以及底部侧边的区域均形成有第一P+层(25)。
5.根据权利要求1所述的一种功率器件,其特征在于,所述第一N+层(22)和所述P-沟道层(24)的外表面均形成有第二P+层(26)。
6.根据权利要求1所述的一种功率器件,其特征在于,所述沟槽(21)上还设有绝缘介质层(3),所述绝缘介质层(3)和所述第二N+层(23)之间形成有第三P+层(27)。
7.根据权利要求1所述的一种功率器件,其特征在于,所述沟槽(21)的侧壁外沿所述第一N+层(22)和第二N+层(23)的排布方向交错设置有多个所述第一N+层(22)和第二N+层
(23),且任意两个所述第一N+层(22)和第二N+层(23)之间均由所述P-沟道层(24)隔离。
8.根据权利要求1所述的一种功率器件,其特征在于,所述N基体(1)和所述P-外延层
(2)的材料均为SiC。
9.一种功率器件的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:采用外延工艺,在N基体(1)表面外延制得P-外延层(2);
S2:采用刻蚀工艺,在所述P-外延层(2)光刻定义出沟槽区域,并进行刻蚀,形成沟槽
(21);
S3:采用离子注入工艺,利用注入角度选择性地将铝离子注入到所述沟槽(21)底部及底部侧边相应区域形成第一P+层(25);
S4:采用光刻和离子注入工艺,首先光刻定义出需
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