CN102980840A β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法 （青岛佳明测控科技股份有限公司）.docxVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN102980840A

(43)申请公布日2013.03.20

(21)申请号201210430372.9

(22)申请日2012.11.02

(71)申请人青岛佳明测控科技股份有限公司

地址266000山东省青岛市市北区福州北路

169-919

(72)发明人高心岗郭松明郝纯青赵军峰程丽华

(51)Int.CI.

GO1N15/06(2006.01)

权利要求书1页说明书3页附图3页

(54)发明名称

β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法

(57)摘要

CN102980840A一种β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，利用了化学蚀刻控制膜片的等效质量，工艺要求低，一般等级的化学实验室即可进行标准质量膜片的制作，制作所需药品和材料成本低，获取方便，可在测量需要时随时制作，无须从国外进口，保证了测量工作的工作效率，膜片固定稳固，避免了由于膜片粘接不稳固产生形变，造成

CN102980840A

CN102980840A权利要求书1/1页

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1.一种β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，其