用共线光热偏转技术测量光学薄膜的微弱吸收.pdfVIP

维普资讯 第 10卷 第 2期 光 学 学 报 VDj．1O．No 2 1990年 丑月 ACTA OP TICA 8INIOA bru0 ，199D 用共线光热偏转技术测量光学 薄膜的微弱吸收 吴 周 令 (中国科学院上海光学精密机械研究所) I 唐鲁发 施槠煊 (浙江大学 光仪系，杭州) 提 要 甩具有高灵敏的共鳗光热偏转技术研究8j 、z=o2、Mg 、Zn8等单层光 学薄膜的碾收特性．满得它们 的吸收率。实验结果与鼓光量热法及横向光热偏转技术符合良好。表明共线光热偏转技禾葛 学薄膜羁 吸收的较理想方法。 关键谓!光热偏转光谱术；薄膜弱哑收． 一 、 引 言 我们 曾提出用横 向光热偏转技术 (TPD8)测量光学薄膜的微弱吸收并报道了初步的实 验结 。TPDS方法是一种较好的研究光学薄膜吸收特性的方法，但这种方法 以样品表面 附近空气层为耦台介质，不仅使灵敏度受到一定限制 (气体介质折射率温度系数 ／d 较 固体要低一个量级)，而且实验结果受环境(如气流扰动)影响较大。另外，TPDS法在实际测 量 中对泵浦光束、探测光束以及样品兰者之间的相对位置 的布置要求较高，调整过程相对要 复杂一些，因而重复性较差。 本文报道用共线光热偏转技术 (OPDS)研究光学薄膜吸收特 性的实验结果，这种方法 以玻璃基底为光热偏转耦台介质，一定程度上克服了上述TPDS技 术的不足。 二 测 量 原 理 样品受强度调翩的激光束 (泵浦光束)照射的，光吸收的存在将在样品内部产生热波，从 而在样品及其周围介质内形成周期性梯度折射率分布，当另一束激光束 (测量光束)通过这 一 梯度折射率区域时，其方向将发生相应的周期性偏转。使用象限探测器探测这一偏转，分 析所得结果即可获得关于样品光吸收 的信息。共线光热偏转技术是指探测光与泵浦光近似 共轴的情形，如图1所示。 设样品是折射率为啦 的单层光学薄膜 基底折射率为 ，实验时样品置于空气中(折射 收稿 日期：1988年 4月5日；收到修改稿 日期：198a年 1月船 日 维普资讯 2期 用共线光热偏转技术测量光学薄膜的微弱吸收 135 Fig．2 Thermalwavein sub．rate Fig．i GeometryofCPDS causes0BD 日 hal 率为920)，则由光线在非均匀介质中的传播规律 可得探测光束偏转角 表达式如下： 一 塞去詈JVTt()凼。 (1) 式 中 是介质 的折射率，d d 是介质 ‘的折射率温度系数，鼠是探测光束在介质 #中 的传播路径，T．(f．，)是介质 中的温度场分布，V ·(，．，)是介质 {中与探测光传播方向 相垂直方 向的温度梯度 。 实验中为避免泵浦光直射到象限探测器上，通常须使探测光与泵 浦光有一交角 ，如图2所示，在这种情况下，适当诃整探测光与泵浦光的相对位置，使它们 的重叠仅发生在基底内部，则 (1)式简化如下： 去等 JVT2()。