改进型高分辨率宽波段Schwarzschild成像光谱仪研究.pdfVIP

第33卷，第8期 光谱学与光谱分析 2O 1 and August，2013 3年8月 SpectroscopyspectralAnalysis 改进型高分辨率宽波段Schwarzschild成像光谱仪研究 刘建芳 吉林大学，吉林长春130031 为基础，获得了该结构的完善消像差条件；之后，对该结构进行了改进，由准直镜和凸面镜，以及凸面镜和 种系统的各个光学参数的计算条件。以一工作波段为340～500衄的紫外一可见成像光谱系统为例进行了设 计，从而对设计理论进行了验证。根据优化理论计算了初始结构最优解并进行光线追迹模拟，成功设计了数 值孔径o．125，全视场全波段调制传递函数值在奈奎斯特频率(20lp·m1)下大于o．58的高分辨率成像 统应用，设计结果也表明这种改进的系统设计理论适用于小型宽波段高分辨率成像光谱仪。 关键词sch、张rzschild；成像光谱仪；像散矫正 中图分类号：0433．1 使得这种系统能适用于绝大多数成像光谱仪应用的场合睁7|。 引 言 限制Offner系统应用的唯一局限性在于凸面光栅的适用性， 在很多特殊场合和要求下，比如，较为特殊的刻线数，或是 成像光谱仪是目前得到广泛应用的一种光谱仪器形式。 较为特殊的波段(如远紫外波段)，相应的凸面光栅都比较难 不同于其他探测仪器的地方在于，它不仅能够对所要探测的 于加工。 特征光谱进行精细的光谱区分，同时还能对探测目标进行连 实际上成像光谱系统在不考虑色散元件的情况下，均可 续的多光谱成像，获得其宏观特征[1]。 成像光谱仪光学系统主要校正的像差是像散[2]，这是由 使用球面光学元件，又由于其使用了凸面镜，因此视场可以 于狭缝长度和宽度方向的不同造成的像散扩散不同导致的， 做得比较大，同时这种系统相对消像差的能力较强[8。1…。本 目前在可用于成像光谱仪的反射式光学系统中，Eben-Fastie 结构，czerny．Tumer结构，0ffller结构等由于优越的像差校 正能力而经常得到应用。Czerny-Turner结构和Eben_Fastie好的消除两个方向上的像散差的条件。以340～500m波段 结构均使用了平面光栅作为色散元件，而Offner结构则使用的成像光谱仪系统进行举例设计，该系统的空间分辨率达到 了凸面光栅作为色散元件。其中Czemy-Tumer结构是 了很高的指标，同时这种结构还避免了凸面光栅特殊场合难 Eben_Fastie结构的改进型，即将Eber卜Fastie结构中准直镜 于制作的问题，因此具有很好的工程应用性，适用于各个波 和聚焦镜由同一片镜拆成了两片镜，避免了杂光和二次色散 段的遥感用成像光谱仪设计和应用。 的问题。目前很多相关研究均集中于Czemy-Tumer结构和 1 0ffner结构，并获得了很多成果。针对CzemrTumer结构， 就有很多种方法可以获得良好的成像质量和光谱分辨能力， 比如调整准直镜位置，使光栅位于发散光之中；将球面聚焦 镜变为超环面镜；对准直镜和聚焦镜采用自由曲面；或是使 用柱面镜代替球面聚焦镜等等[3-5|。对于Offner系统，由于 其自身不需要使用复杂的光学元件和卓越的像差校正能力， 收稿日期：2013一02一04．修订日期：2013．04—28 基金项目：国家自然科学基金项目资助 作者简介：刘建芳，1976年生，吉林大学副教授e-fIlail：liujianfan9125@163．com 万方数据 第8期