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孟国栋等：真空沿面闪络过程放电光谱分析 绝缘材料 2012，45(3 真空沿面闪络过程放电光谱分析 孟国栋，酉小广，成永红，吴 锴 (西安交通大学 电力设备电气绝缘国家重点实验室，西安 710049) 摘要：选取高压真空绝缘体系中常用的环氧树脂为研究对象，通过添加不同粒径的纳米无机填料，分析不同 填料对沿面闪络过程的影响。利用闪络过程光谱实时测量系统分别研究红外光 、可见光及紫外光范围内的 闪络发光光谱的时域波形，从发光光谱的角度分析闪络过程的发生和发展机理。结果表明：闪络光谱强度并 不随闪络电压的升高而增强，纳米无机氧化物的添加会引入更多的深陷阱能级，且会增加高能光子的发射。 关键词：真空沿面闪络；环氧树脂 ；光谱分析；深浅陷阱；电子发射 中图分类号：TM855；TM201．4*4 文献标志码：A 文章编号：1009．9239(2012)03．006405 Discharge Spectrum Analysis ofSurfaceFlashoverProcessin Va．cuum M engGuodong，You Xiaoguang，Cheng Yonghong，Wu Kai (StateKeyLaboratoryofElectricalInsulationandPowerEquipment, Xi’an Jiaotong University Xi’an 710049 , , China) Abstract：Choosing epoxy resin commonly used in a high volmge and vacuum insulation system asre- searchobject，theeffectsofdifferentfillersonthesurfaceflashoverprocesswereanalyzedbyaddingvar— ious diameternanoscale inorganic fillers to the epoxy system．The time domain waveform ofthe flash— overspectrum including infrared light，visiblelightand ultravioletlightwerestudied respectively using re— al-time fiashover spectrum measurementsystem ；and the occurrenceand developmentmechanism offlash— overprocesswere discussed from the perspective offlashoveremission spectrum．The resultsshow that the intensity offlashover spectrum doesn’t increase with the increase offlashovervoltage．Theaddition ofnanoscale inorganic oxide will introduce more “deep trap” energy level，and atthe same time en— hancetheemission ofhigh energy photon． Key words：surfaceflashover in vacuum；epoxy resin；specturm analysis；deep and shallow trap；electron emission 0 引 言 对于沿面闪络机理 ，主要分为起始阶段 、发展阶段 绝缘材料的真空沿面闪络现象是脉冲功率设 和闪络击穿阶段3个阶段 。起始阶段：初