控制工程基础 教学课件 作者 曾励7 7.pptVIP

7 采样控制系统分析基础 * 由上可见，s平面的虚轴在z平面上的映射曲线是以 坐标原点为圆心的单位圆，如图7.12所示。设 ，则 ， 其幅值 为 ，当s位于s平面虚轴的左半部时，σ为负， 这时 ，反之，若s位于s平面虚轴的右半部时， σ为正，这时 。所以，s平面虚轴的左半部在z 平面上的映象为以原点为圆心的单位圆的内部区域。 图7.12 s平面和z平面的映射关系 7 采样控制系统分析基础 * 2．线性采样系统稳定的充要条件 根据以上分析易知，线性采样系统稳定的充要条件 是闭环特征方程的所有根（即闭环脉冲传递函数的 极点）均位于z平面上以原点为圆心的单位圆内，也 就是要求这些根的模均小于1。 与分析连续系统的稳定性一样，用直接求解特征方程 式根的方法判断系统的稳定性往往比较困难，下面介 绍一种比较实用的方法。 7 采样控制系统分析基础 * 3．劳斯稳定判据 因为劳斯判据能判断系统特征方程式的根是否在复 平面虚轴的左半部，而不能直接判断特征方程的根 是否在z平面的单位圆内，因此，为了使劳斯判据仍 然适用于离散系统稳定性的判断，必须采用一种双 线性变换方法(又称w变换)，使z平面上的单位圆内 映射为w平面虚轴的左半部。 根据复变函数的双线性变换方法，设 ，z和w均为 复变量， , 则有 即 ， 7 采样控制系统分析基础 * 可见，z平面上的单位圆x2+y2=1，对应于w平 面中虚轴u=0；z平面上的单位圆内x2+y21，对应于 w平面中虚轴的左半部，即u0；z平面上的单位圆 外x2+y21，对应于w平面中虚轴的右半部，即u0。 z平面和w平面的映射关系如图7.13所示。 综上所述，令 代人采样系统的特征方程，进行w变 换后，即可在w平面中利用劳斯判据判断采样系统的稳定 性。下面举例说明劳斯判据的应用。 图7.13 z平面和w平面的映射关系 7 采样控制系统分析基础 * 例7.11 设采样系统的方框图如图7.14所示，其 中 ，采样周期T=1s，试确定闭环采样系统 稳定的K值范围。 图7.14 某采样系统 解: 系统的开环传递函数为 则系统的特征方程式为 7 采样控制系统分析基础 * 将 代人，则有 w2 2.74－0.63K 0.63K w 1.26 0 w0 0.63K 为了保证采样系统稳定，则必须有2.74-0.63K0和0.63K0， 故0K4.35。 7 采样控制系统分析基础 * 由此可见，在二阶系统中加入了采样开关之后，当系 统增益增大到一定幅度后，采样系统会变为不稳定。从线 性连续系统的稳定性理论可知：二阶线性连续系统总是稳 定的(因为闭环特征根的轨迹总是在s左半平面)。二阶线性 采样系统与线性连续系统的稳定性差异是由于采样开关的 特性（采样定理）造成的。对于线性采样系统而言，一般 情况下当系统采样频率增高时，系统的稳定性会得到改善， 因为随着采样频率增高，采样系统的工作情况更接近于连 续系统的工作情况。应该指出，在许多情况下加入采样器 对系统稳定性不利，但也不能绝对化。在一些特殊情况， 例如再包含迟后环节的系统，加入采样器往往能改善系统 的稳定性。 7 采样控制系统分析基础 * 另外，在利用劳斯判据判断闭环采样系统稳定性时 的双线性变换，可以是 ，也可以是 ， z平面的单位圆内仍对应于w平面虚轴的左半平面。 采用双线性变换后，凡是适合于线性连续系统分析 稳定性的方法，均可以推广应用于线性采样系统， 包括频域分析法、根轨迹法。 7 采样控制系统分析基础 * 7.6.2采样控制系统的稳态性分析 稳态误差是系统稳态性能的重要指标。图7.15所示的单位反 馈采样控制系统中，系统在输人信号作用下误差的z变换为 式中，E(z)为采样误差信号 的z变换；R(z)为输入采样 信号 的z变换。 E*(s) － ＋ C*(s) R*(s) R(s) G(s) C(s) E(s) 图7.15 采样控制系统 7 采样控制系统分析基础 * 若闭环系统稳定，利用终值定理，不难求出在输入 信号作用下采样系统的给定稳态误差终值 (7.41) 由此可见，离散系统的稳态误差与连续系统的类似， 与输入信号r(t)及系统开