电感耦合等离子体原子发射光谱中锆高级次谱线对铝的干扰.pdfVIP

冶金分析 ,2008 ,28 1 :3539 Met allur gical Analy si s ,2008 ,28 1 :3539 文章编号 :1000 - 757 1 2008 0 1 - 0035 - 05 电感耦合等离子体原子发射光谱中锆高级 次谱线对铝的干扰 徐建平 武汉科技大学 ,湖北武汉 　430081 摘 　要 :根据铝的电感耦合等离子体原子发射光谱图 3082 15 ,39440 1 ,396 152 nm 上锆的 干扰谱信息 ,结合分光方程的计算 ,确定了中阶梯分光光谱仪上存在着锆对铝的高级次光谱干 扰 。在铝线 3082 15 nm 处锆线 26042 nm 129 级 , 3 1398 nm 107 级 , 349958 nm 96 级 ,38 1758 nm 88 级 ,442046 nm 76 级 有干扰 ;在铝线 39440 1 nm 处锆线 376675 nm 89 ,272547 nm 123 级 ,26396 nm 127 级 , 253965 nm 132 级 有干扰 ; 在铝线 396 152 nm 处锆线 56 12 11 nm 60 级 ,350767 nm 96 级 ,285366 nm 118 级 有干扰 。 关键词 :光谱干扰 ; 固体检测器 ; 中阶梯光栅 ;锆 ;铝 中图分类号 :O6573 1 文献标识码 :A 电感耦合等离子体原子发射光谱 ICPA ES 际情况比较 ,来说明固体检测器纵轴的干扰和不 法测定铝的研究与报道很多 ,使用的仪器类型包 同级次谱线干扰的存在 。理论上很多元素都有类 括单道扫描 、多道直读和全谱直读三大类 。扫描 似的情况 , 由于中阶梯光栅型光谱仪采取了交叉 型仪器[ 1 - 10 ] 尽管分析谱线的选择比较灵活 ,但从 色散来解决不同级次间的干扰 ,所以并非所有的 目前的报道看 ,使用的谱线不多 ,除多道型仪器使 不同级光谱重叠都能表现出来 。希望本文的报道 用的2 条谱线外 ,另有 2373 12 nm ,30927 1 nm , 能引起或加强这方面的研究 。 39440 1 nm 。多道型仪器测定铝[ 11 - 15 ] 谱线 , 一 1 　实验部分 般只选 3082 15 nm 和 396 152 nm 。目前全谱型 仪器测定铝的报道[ 16 - 25 ] 中 ,对谱线的干扰研究仍 1 1 　仪器和工作条件 然沿用的是传统的观点 ,这可能是仪器制造商认 电感耦合等离子体原子发射光谱仪 美 国 为中阶梯光栅解决了不同级次的光谱干扰问题 。 TJ A 公司 ,A dvant age IR IS 型 : 中阶梯光栅二维 事实上 , 中阶梯光栅光谱仪级次干扰有时相 色散系统 ,CID 电荷注射式固体检测器 ,共有 5 12 当严重 。美国 TJ A 公司 A dvant age IR IS 型仪器 ×5 12 检测单元 ,波长范围 170 ～900 nm 。工作 上的光谱图是摸拟图。采用检测器的水平轴 X 条件 :R F 发生器的功率 1 15 k W ;冷却气流速为 轴 作模拟图的波长轴 ,模拟图上 Y 轴光谱强度 , 10 L/ min ; 喷雾压力为 03 M Pa ; 垂观测方式 检测器 Y 轴上的信号无法反应出来 。事实上就 Radial ;铝分析线波长 级数 为 Al 266039 nm 固体检测器而言 , Y 轴上的光谱干扰同 X 轴上相 126 ;积分时间:高波段 High WL 5 s ,低波段 同 也许仪器的设计者做过研究 ,通过改变检测器 Low WL 10 s 。 的放置方向可减少 Y 轴上的干扰 。到 目前为止 12 　试剂 尚未见到这方面的研究与报道 。 Zr O2 标准溶液 : 80 mg/ L ,称取 0080 0 g 样 本文通过传统光谱仪测定铝的谱线选择的干 品于垫有约 1 g 硼酸和碳酸钠混合熔剂 2 + 3 的 扰情况与中阶梯光栅测定氧化锆基材料中铝的实 15 mL 铂坩埚中 ,混均后盖一层约 02 g 混合熔 收稿 日期 :2007 - 07 - 16 作者简介 :徐建平 196 1 - ,男 ,教授级高工 ,从事化学分析 、标准物质/ 样品研制 、冶金产品质量标准化及相关研究 工作 , Tel :027 - 座机电话号码 , Email :wkdxj p @263 . net 。 — 35 — ? 1994-2009 China Academic Journal Electronic Publ