电子继电器总剂量效应试验.pdfVIP

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. 第八届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会论文集 ————————————————————————————————————————————————————————————一。 电子继电器的总剂量效应试验 杨生胜 牛小乐 (航天科技集团公司五院五一O所,兰州市九十四号信箱,730000) 摘要:继电器是常用的开关组件,随着控制精度的提高,电子继电器开始在空间应用。本文针对空间辐射环 境可能对空间电子继电器的影响,采用地面模拟试验的方法,对165厂生产的电子继电器进行了摸底辐照试验, 为设计生产提供了参考数据。 关键词:电子继电器,总剂量效应,Co一60Y射线 继电器是空间常用的开关组件,随着开关精度的提高,电子继电器开始在空间得到应用。电 子继电器具有控制精度高、开启平稳、功耗低等特点。但从空间环境的影响来看,由于电子继电 器中使用了集成电路,特别是二次集成了存贮器件,空间辐射的影响是不可忽视的。 1辐照试验 针对电子继电器的空间辐射总剂量效应,我们对165厂生产的集中电子延迟继电器进行了辐 照试验。 1。1试验对象 表I试验样品 样品型号 样品编号 测试项目 额定数据 D163 延时时间:秒 5.0秒 2JSt5-1 D329 延时时间:秒 5.0秒 97020 延时时间:秒 0.5秒 1JS.1l 9703l 延时时间:秒 1.0秒 G458 延时时间:秒 .1.0秒 1JSl25-X G374 延时时间:秒 5.0秒 试验样品共有三种12只,具体参数如表l所示。 1.2辐照试验 试验模拟源:Co.60 Y射线,辐照剂量率:l×104rad(Si)/hour。 试验中采用长电缆供电,调节辐照室外部输入端电压使继电器输入端达到继电器的额定工作 电压,测试继电器工作正常后:开始辐照试验,辐照过程中继电器始终处于偏置状态,试验过程 中始终监测样品的延时时间输出,测试仪器是由165厂自己研制的延迟时间参数测试仪每lO分 钟测试一次。 2试验结果 试验结果如表2所示。 7l 第八届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会论文集 I 表2辐照试验结果 辐照剂量 样品编号及测试数据(延迟时间:秒) (rad(Si))D163 D329 97020 9703l G458 G374 O 5.002935.002800.49824O.997460.989734.97639 1.67x103 5.002985.002880.4977lO.996970.989874.97716 103 5.002885.002850.497300.99670 3.33x 0.989874.97645 5.00x103 5.003035.003210.497760.99730O.99414无输出 6.67x103 5.003075.00304

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