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0.1微米电子束曝光
实验装置的实用化研究
薛虹,顾文琪,张福安, 谭敏,唐晖,张今朝
(中国科学院电工研究所,北京2703信箱100080)
摘要:本文主要论述0.J微米电子束曝光机实用化研究的内容。简介系统的组成及达到的主
要性能指标.
关键词:电子柬曝光机;_T-艺实验
1引言
自90年代中期以来,以大规模集成电路为核心的现代微电子技术以飞速发展的态势,向着更高
集成度和超微细化方向发展,各种超高密度、高速度的微电子器件不断出现,促进了当代数字技术的
革命。
集成电路芯片图形特征线宽进A0.13微米以后.光学曝光将达到极限。下一代的曝光技术将是屯
子束曝光和x线曝光。必须指出,x线曝光仅仅用于图形的复印.而电子束曝光不仅仅用于制各掩模
版,而且更重要的是用于产生图形,被广泛用于量子效应器件、集成光学器件以及纳米结构等领域的
探索研究。因此,电子康曝光系统是纳米时代微电子产业的关键设备。世界各工业先进国家如美国、
英国、日本、德国投入了大量资金研究开发新一代光刻设备。“0.1微米电子束曝光实验装置”是为
电子束曝光机产业化而进行的关键技术研究。
2 0.1微米电子束曝光实验装置的主要技术指标
曝光最细线宽:O.08,am 阴极性能fLaB6):
虽小电子束束斑:O.025I_tm 束流密度:90.339A/cm2
寿命:超过2100小时
扫描场(mrnxmm):0.5×0.5;1.0×1.O;1.6×1.6
图形精度:优于O.1,urn 最大工件尺寸:6”掩模;5“硅片
定位精度:优于O.19m 片库容量:12片
3 O.1微米电子束曝光实验装置的
系统组成
图1为0.1微米电子束曝光实验装置的照
片。系统组成主要包括有:
(1)LaB6阴极高亮度电子光学柱
(2)精密激光工件台
(3)计算机控制系统与软件
(4)数据传输与图形发生器
(5)各类精密电源
(6)超高真空系统。
图1 0.1微米电子束曝光实验装置
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4 0.1微米电子柬曝光实验装置的关键技术研究
4.1独特的电子光学设计
采用相关的数学模型对电子光学系统进行评估及优化设计:采用透镜前双偏转器设计及线切割加
工工艺,缩短工件距离,减小总象差,使最小束斑0.0259m。
4.2LaB6高亮度阴极
最大束流密度:339A,crn2
阴极寿命:大于2100小时
4.3真空系统
采用二个离子泵、一个分子泵、一个机械泵的真空系统,使电子柱的真空达5xlo-8乇,有效地延
长了LaB6阴极寿命。
4.4工件台
激光工件台测量系统采用美国HP公司的5517双频激光干涉仪测量系统,测量分辨为,L64
(O.011.tm)。工件台的最大有效行程141mm。
4.5偏转放大器
采用低漂移、低噪声、高速双通道功率放大器,优化静态与动态参数,频响大于2MHz。
采用恒温措施提高稳定性,漂移1.5×106t8小时;噪声2001W。
4.6图形发生器
采用16位D/A和12位高速D/A,分别保证主场的位置精度和子场的快速扫描,另外还有3对12
位D/A分别对扫描场的增益、旋转和工件台跟踪进行校正。该图形发生器可产生矩形,如配备适当的
软件还可制作梯形、圆和圆环。
4.7校正系统
研制成功校正、对准、标记图形检测、数据转换等软件。
扫描场增益校正,旋转校正精度优于O.01斗m。
5电子束曝光试验
5.1电子束扫描场坐标系的调整
工件台坐标系、电子束扫描场坐
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