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表面修饰增强光催化活性机量IMPS研究.pdfVIP

表面修饰增强光催化活性机量IMPS研究.pdf

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表面修饰增强光催化活性机理的IMPS研究1 尹峰盐愿肖绪瑞 中国科学院化学研究所,分子科学中心 多年来在半导体光催化降解污染物的研究中,丁i0一直以其无毒、稳定性 好、可彻底氧化大多数污染物的优点而成为半导体光催研究中的重点,但由于 TiO:禁带宽度较大只能利用太阳光中极少的部份,因而如何扩展TiO:光催化剂 的吸收光谱,提高其光催化活性也一直是许多研究人员的研究目标。而要达到 这一目标,.了解和掌握TiO,光催化反应及其光催化活性增加的机理是必不可少 的【“。在本工作中我们以强度调制光电流谱(IMPS)为主要研究方法对HCl表面处 理对T的,光催化活性增加的机理进行了研究。 实验部份 Hcl溶液{芰泡16d,时后洗净并干燥后得到经表面修饰的样品B。IMPS铡量是在 自建的悬浮体系IMPS测量系统中进行,工作电极和对电极分别均为铂片,样品 浓度为0.19儿,以0.1M的KCI为支持电解质,参比电极为饱和甘汞电极,光源 为125W高压汞灯.所用的恒电位仪和锁相放大器为EG&G公司的273和5301A, 以自编程序通过PC机控制测量和数据分析.测量频率为5~1000Hz。光催化活性 测定是在与大气相通的带石英窗反应器中进行,所用底物为3’×103mol/L的 CHCI,,光催化剂浓度为lg,L,所用光源为29W低压汞灯,CHCI,光降解速度通 过氯离子选择性电极测量cl‘浓度进行检测。 结果与讨论 图l为经过HCl处理前后的Tiq光催化降解CHCl,时,Cr的产生速度,从圈 中可见经Hcl处理后CI.产生速度明显加快,表明采用Hcl对Ti0:进行表面处理可 以有效的提高其光催化括性. 为了研究Ti02光催化活性提高的机理,我们咀自创的悬浮体系蹦PS法对其 圈1.HCI处理前后n吼 样品对CHCb的光催化 一J)e量.尊I)一.Iu— 降解速度 .Time(miIL) 光激发原初过程进行了研究.图2分别缭出了在两种Ti02微粒在ov和O.6V电位 下的m口S,从图中可见在两个电位下两种T002的蹦Ps中都有代表阳极电流和阴 极电流韵上下半圆。并且随外加电压的负移,两种Ti吼的MPs信号都在减小, ·85一 两者变化趋势也是一致。不同的是经处理后的Tiq的光电流比未处理的样品 大,特别是其中的阴极电流成份增加更为明显.由于阴极电流和阳极电流分别 由OH.和TiOi产生,这就说明经HCl处理后的Ti02产生OH。浓度增大。我们以前 的工作证明经Hcl处理后的TiO:表面态浓度减少埘,因此,导致。口浓度增加可 以按如下的反应机理进行解释: m一·~00V B —●~0.6V O心 j‘ /——\ c! / 、了 争1 j-.《,-一~ -- 气 · 1.二/ 心 ’ -02 。i掣~。m j.、~ - _ _ .0.1 0,0 0.1 02 -2.0·1.5-1.0 -o.S 00 0.S hhA I叽n

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