超快电信号电光采样测试的原理与测试系统.pdfVIP

超快电信号电光采样测试的原理与测试系统 李建威‘1】徐楠川姚和掣21李健…熊利民‘21张志新‘21王慧敏… 南开大学物理科学学院光子学中心 中国计量科学研究院光学所 摘要：论述了超快电信号电光采样技术的原理与实现方法、电光晶体中电场和光采样脉冲之间的相 互作用原理以及时间扫描单元，建立了共面波导参数模型，并对测试系统的技术指标进行分析。 关键词：计量学；电光采样；共面波导(CPW)；等效时间采样；高速光电探测器 一、引言 随着被测瞬变电场频率的不断提高，现代电光采样测试系统越来越多地采用激光外调制方式， 作为外调制技术中的电光调制具有更快的转换速度，因此得到了日益广泛的应用。2003年德困物理 以钽酸锂晶体作为电光调制器，应用失配校正的方法测得200GHz光电探测器的时频特性响应波形 表的研究报告中表示电光采样系统测量的信号频率可以超过600GHzml。 二、电光采样原理及系统 电光采样技术基于电光材料的Pockels效应，即电光材料在外加电场的作用下，其折射率将发 生变化，当光波通过此介质时，其传输特性(如相位、频率、偏振态和强度等)受到影响而改变。 通过检测光信号的变化可以得到晶体上电场的变化，实现对电信号的测量，根据等效时间采样原理 得到被测高速光电器件的响应特性。 图1所示为电光采样的基本原理。激光器产生约lOOfs超短脉冲序列的光束，分光器将其分成 两束：“激发”光束和“采样”光束。激发光束被斩波器调制后，激发被测器件(OUT)——光电接 收器。光电接收器存在一个激光输入和一个同轴的电气输出，当它受到激励光束的照射后，在它的 同轴输出端将产生一序列高速的电信号。由于光脉冲的宽度非常窄(fs数量级)，与光电接收器的响 应时问(ps数量级)相比非常地短，因此在同轴端输出的电信号可以被认为是光电接收器的冲击响应， 即所要测量的量。 286 图1电光采样测量系统结构示意图 光电接收器产生的电信号作为电光调制信号，通过微波探针传送到共面波导(CPW)上，CPW为 CPW的特性阻抗为50S2与被测光电接收器相匹配。 在晶体参考平面利用采样光束可以重建CPW中传输的不断重复的电信号。根据等效时间采样原 理，采样光束对要测量的波形进行采样。通过可变延时线改变采样光脉冲和电脉冲之间的相对延迟， 得到被测电信号的扫描波形。经过延迟的采样光束通过一个与LiTa03晶体的X轴成45。的线性起 偏器，聚焦到共面波导的一个槽，并穿过LiTa03晶体。 当采样光束通过LiTa03晶体时，传输微波场与光采样脉冲相互作用，CPW中心导体与接地线之 间的电场对其产生横向电光调制，改变采样脉冲的能量，从而使透过光束偏振态相对于入射光束的 偏振态发生线性变化，这种偏振态的变化与采样光束到达CPW时CPW中心导体与接地线之问的电压 成正比，偏光分光器将通过补偿器的圆偏光分成水平偏振光和垂直偏振光，并flJ偏光分析仪进行测 量。差分放大器检测出的偏振光的变化信号经锁相放大器进行光电隔离，通过A／D转换，输入计算机 进行分析计算并输出结果。相比基于光导开关的非入侵式外电光采样技术，这种测试方法对CPW中 传输的微波电信号产生较小的干扰。 三、电光晶体中电场和光采样脉冲之间的相互作用 287 性。如图2所示，电场与采样光脉冲相互作用，采样脉冲在+X方向传输，通过与+Y方向传输的电场 相互作用积累相位延迟。可变时间延迟系数r为采样脉冲到达时间。输出信号强度1sigV’‘7是相关 延迟时间f的函数，与叠加的场成比例。随着l‘I从0开始变化，脉冲叠加变小，～igV’‘7的值变小。 脉冲能量u‘fJ与1啦V’‘J曲线下面积成正比，且与f有同样关系。当两个场没有叠加时， 』，fg【f，f)2 u。因为光电接收器所测的采样光功率不能响应瞬时功率波形，将』啦【f，f)积分得到采样 脉冲能量uLrJ[7]。方程u【fJ表示采样晶体中在电光相互作用下的采样脉冲的净能量，其受到采样 晶体中电光作用的影响，由式1表示： 其中彳(％，b，他，‰)是包含折射率参量和电光张量‰的系数。 k(f，f)