基于X射线衍射仪的X光晶体参数标定方法的研究.pdfVIP

四川省电子学会电子测量与仪器专委会第十五届学术年会论文集 基于X射线衍射仪的X光晶体参数标定方法研究 李军 韦敏习杨国洪侯立飞 易涛刘慎业 (中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川 绵阳621900) 摘要基于实验室X射线衍射仪，利用其运行稳定性和高精度角度控制能力，制作了晶体样 品架，对X光平面晶体的本征参数晶格常数2d和积分衍射效率l沁进行了实验标定，并给出了其不 确定度。该方法既快速又高效，且十分方便，是晶体同步辐射精确参数实验标定的有力补充． 关键词X射线衍射仪x光晶体标定方法激光等离子体 1 引言 在激光惯性约束聚变(ICF)物理实验中，激光与等离子体相互作用会产生大量的X射线，其 中1keV～10keV范围的软x射线份额占绝大部分，一般采用X光晶体谱仪对软X光线谱线型和强度 进行高能谱、高空间和高时间分辨定量测量，并由x光线谱推导出数值模拟迫切需要的等离子体电 子温度、电子密度、离化度和离化分布等等离子体状态参数信息【12】。而x光晶体谱仪的核心组件是 X光晶体，晶格常数(2d)和积分衍射效率(Rc)是表征晶体特性的固有本征参数之一，也是晶体 鉴定和X光线谱定量测量之必须13’41。虽然可在同步辐射装置上对晶体进行实验标定15,61，但受到束 线站工作时间、申请用光等因素限制，使晶体标定工作无法开展。先前晶体的本征参数一般多采用 厂家提供的标称值，由于晶体较脆又薄(1mm)、种类多、外表相似、晶面不能标识，使不同种类晶 体易混淆，再考虑加工批次和工艺造成差异等原因，使晶体参数真实值与标称值存在偏差，给物理 实验数据获取带来了不可估量的风险。 我们基于实验室X射线衍射仪，利用其运行高稳定性和高精度角度控制，制作了晶体样品架， 对x光晶体的本征参数晶格常数2d和积分衍射效率Rc进行了实验标定。 2标定方法 2．1 实验测试设备一X射线衍射仪 X射线衍射仪通常被用于材料的物相分析，即根据某一样品的X射线衍射图像，通过与标准图 样对比，推知样品所含的物质成分。X射线衍射仪主要由X射线管、0转角仪、20转角仪、正比计 数器、高压设备、水冷系统和控制系统等组成，见图l。我们基于实验室现有的Y-2000型X射线衍 射仪，依赖于衍射仪的稳定性和角度精密测控，对晶体的晶格常数2d和积分衍射效率Rc进行了精 密实验标定。平面晶体标定实验光路如图2。其中，E为高能电子流，T为阳极靶，F和S为索拉狭 缝，DS为防发散狭缝，Y为样品，B为滤波片，SS为防散射狭缝，RS为接受狭缝，D为正比计数 器。 目川省电子掌杂电f蔫量与位嚣专壹击第十五届学术年尝论文集 匾毪一 二器架啊 基于X射缱衍射投的x光晶体参敷杯定方法研究 m“si∞ (1) 其中11为衍射级数，x为X光波长，d为晶体晶格常数，0为布拉格角。 由(1)式，如果测量获得机即可得到晶格常数2d。 设晶体的扭摆曲线为P嘞．则晶体积分衔射敬率的定义为： 吧 冠c=IP(o)eoa(o) (2) m 其中，Rc为积分衍射效率．0为衍射角、0l和02分别为包含衍射峰的积分起点和终点角度。 基于X射线衍射仪的运行稳定性，在不变动电源的电压电流条件下，输出的X射线强度是一个 稳定的值，因此可阻通过景计时间求平均得到X射线源的强度，即假定1(e)不变- 通过X射线衍射仪020联动控制来直接测量扭摆曲线P(e)，再依据(2)式通过光谱剥离和积 分后计算得到衍射效率Rc。 24标定实验 实验前首先将Y-2000型X射线衍射仪进行辅密 ·‘枝零”，即使X射线光源、e转角仪、2e转角仪的零 位确定。实验布局见图5。 将待测晶体PET安装在新型样品架内(该晶体 2d标称值为087啡，编号为501002990601)，然后 将样品架小心地安放在衍射仪的样品台上。 5。。 由布拉格定律，计算得对应的2e角是20．41