工业用X—CT检测技术.pdfVIP

维普资讯 2001 第 4期 琦 造 设 奋 研 究 2001正 8月 RESEARCHSqUDIESON FOUNDRYEQUIPMENT Aug2001 、。4 · 专题与综述 · 工业用 X—CT检测技术 杨凰民 (秦皇岛冶金机械有限公司，秦皇岛066004) 摘要：介龆了工业用X CT检测技术的原理、特．点、扫描方式、图象质量的影响因素以厦适用范圆。 关键词：X CT技术；扫描 ；检测 中圈分类号：TH878 文献标识码：A 文章编号：1004 6178(2oo1)04—0030 02 TheApplicationofX—CTTechnologyin Industry YANGfe~tg．min (Qinhuangdao]Vietallurgmechanism ，Ltd (．Heber， nhuang幽 066004，China) Ahslraet：Theprinapk．characteristic，modeofSCa1]，applicationam 。fX CT technolgyinindustrg，facotrsinflue~cingimage qualitgofX—CTareintmduaed．pointoutX—CTecclalologydevebpmacutofient~ion KeyWmds：X—CItechnology；scan；detection x射线探伤在工业生产中应用很普遍，特别是 X—cT检测器装置是由x射线发生装置，机械 加速器的开发应用，提高了x射线的能量，扩大了 扫描装置，x射线检测器和数据处理及图象重建，显 x射的探伤范围 但是，随着科学技术的不断进步． 示装置等组成 对检测技术提出了更高的要求，而x射线照相技术 2 X CT扫描方式 仅能提供一般的二维定性信息，不能实用于测定结 构尺寸，缺陷大小和方向。工业用 x—CT检测技术 医用X cT扫描方式有多种，已经发展到第五 的应用使检测技术产生了质的飞跃，X—CT检测技 代，而工业用 X—cT检测装置因受被检物体的材 术提出了全部的影象形成概念，它比照像法更快，更 质、形状、尺寸的影响，一般采用第二代扫描方式，即 精确地检测出物体内部结构的细微变化，消除了照 平移一旋转扫描，是由于这种方式与其它方式相比． 像法可能导致的检查失真和图象重叠现象，并且大 具有图象质量高，自由度大，适用性强等优点，缺点 大提高了空间分辨力和密度分辨力_1。 是扫描时间长。 1 X CT检测技术的原理 3 影响X—cT图象质量的因素 从x射线源发射出来的X射线对在x射线源和 1)CT断面图象是 由扫描象素组成的，同一断 检测器之间做平移运动的被检物体进行扫描，一次扫 面内的象素越高，图象越清晰，因此，增加检测器矩 描结束后 被检物体旋转一个角度再进行下一次扫 阵的数量有利于提高图象质量。而三维立体图象又 描，如此反复下去，即可得到被检物体的某一断面的 是由断面图象堆积而成的 因此，扫描断层切片厚 若干组数据(通常每次旋转 1。，共旋转 180。)。将这些 度也是影响因素之一，切片厚度越薄，X—CT图象 信息再由计算机计算、处理、重新建立一个完整的断 质量越高，所以应尽可能地减小切片层厚度，而切 面图象显示在监视器上，如图1所示_6J。由所有断面 片层厚度过薄则到达检测