对MCNP程序中平行面源直穿贡献算法的改进.pdfVIP

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  • 2015-07-22 发布于安徽
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对MCNP程序中平行面源直穿贡献算法的改进.pdf

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第一章 MC 方法技巧 对MCNP程序中平行面源直穿贡献算法 的改进 * 邱有恒 毛孝勇 (北京应用物理与计算数学研究所,北京,100094) 摘要 摘要 点通量计数广泛应用于探测区域远小于系统的模型中。对于平行面源,MCNP5 计算源粒子的直穿贡献有 bug,导 摘要摘要 致点通量计算结果 F5 与体通量 F4 差异较大。此外,MCNP 程序(包括 MCNP5 和 MCNP4c)对平行面源的直穿贡献进行多 次重复计算,浪费计算资源,通过算法简化,使计算时间大幅度缩短。 关键词:点通量 ; MCNP关键词 程序; 直穿贡献 关键词关键词 文献标识码:文献标识码:A 文献标识码文献标识码:: 1 引言 点通量密度估计,在 MC 方法中也称下次事件估计,简称为 NEE。在输运计算中,当探测区域相对 * 于整个系统很小时,可近似为一点来处理。如果用一般 MC 方法计算点通量密度 Φ(r ) ,必须选取一个 * * 包含 r 在内的微小体积元 ∆V ,然后计算 Φ(∆V) ,便可以得到 Φ(r ) ,为了提高精度,体积元应选得比较 小,这样给 MC 计算带来了很大困难,这主要表现在:当系统比较大时,即便在随机游动中模拟了大量 的粒子,却只有很少一部分粒子有可能通过几何体ΔV,对几何体的粒子径迹长度有贡献,而绝大多数 的粒子是无用的。因此,在多数情况下,采用一般 MC 方法计算点通量密度效率低下,而必须考虑其他 更为有效的方法,其中应用较早和普遍的方法是指向概率法[1-2]。 使用指向概率法计算粒子对探测器的贡献可用式(1)来表示 φ = wp(µ ,ϕ )e−λ / R2 (1) 其中 λ 是粒子自由程的数目,也称为光学厚度。w 是粒子权重,p( µ,φ)是粒子朝探测器发射的概 率密度,R 是源点或碰撞点到探测器的距离。物理含义是:由源或碰撞点发出的粒子对探测器 的贡献,等于其权重乘以其向探测器发射的概率,再乘以粒子经过 R 距离到达探测器而不发生 进一步碰撞的概率。通常将源粒子对探测器的贡献称为直穿贡献,粒子经过碰撞对探测器的贡 献称为散射贡献。 [3] 在 MCNP 程序中,对各种反应道以及标准源,假定方位角对称,即 p( µ,φ)=p(µ)/2π,程序中 主要处理极角的概率密度分布 p( µ) 。 点通量是体通量的一种极限情况,两者应该一致,但是,在计算平行面源点通量时,MCNP4c 与 MCNP5 的计算结果差异很大。计算模型见图 1 所示的圆锥体,源平面为半径为 1cm的平行面源,介质为铝,密 度 2.7g/cm3 。圆锥体的底部厚度 1cm,侧部0.5cm,锥角 10 度,顶点(10.879,0,0),测点坐标(5,0,0 )。 测点 (10.879 0

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