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l基本原理 f(t)一击仁仁耽Q,6)丸“幻壶如豳(6)
1.1咖检测原理 2建模原理
TOFD技术有赖于超声波与缺陷端部的相互
作用Ⅲ,此相互作用的结果为:在相当大的角度范围 TOFD检测时探头接收到的A扫描信号中含
发射衍射波。检出衍射波就能确定缺陷的存在。信 有大量被检工件内部结构特征信息,对于这些突变
号的幅值用来发现缺陷,所记录信号的传播时间信 信号的位置和幅值的把握关系到检测的精度,设:
息用来对缺陷进行定位定量,计算示意图如图1 厂(£)=丘(£)+fJ(£)+厶(£)(7)
所示。 式中厂(£)为探头接收到的A信号;正(£)为直通波
信号;五(£)为近表面缺陷衍射回波信号;丘(£)为底
发射探头
面回波信号。对于近表面缺陷,由于探头间距较近,
其检测能量得到保证,重点关注于直通波和近表面
缺陷衍射回波之间的时间分辨力,对于某一确定深
度
度的缺陷,自定义时间分辨力为:
A=毛一(tb+to) (8)
式中乙为近表面缺陷衍射波起跳时间;如为直通波
图1计算示葸图
起跳时间;乙为无缺陷时直通波振动时间。
则缺陷深度可由如下几何关系得出:
对于已知深度的缺陷,ta,tb的差值为确定值,
4—(cLxtx)2+—4c△t上S(1)分辨力A的大小完全取决于直通波振动时间t。的
d上=百1
大小:以越大,分辨力越小;tc越小,分辨力越大。当
S (2)
d-F=÷~/(c下)2+4cAtT
缺陷埋深为: ‘I —
式中产一工件中纵波波速; d去~/(口。)2+4ct。S(9)
厶
SL一1/2探头间距;
卜缺陷端点高度; 直通波的拖尾现象会影响缺陷波的识别,无法准确
定位缺陷深度,式(9)中的d即为近表面检测能力。
上——A扫描信号中上端点衍射信号与直通
因此,对于近表面的检查,直通波的振动时间乙越
波信号的时间差;
小,检测能力越强。为了获得较短的振动时间,对原
△虾——A扫描信号中下端点衍射信号与直通
始信号进行小波多尺度变换,提取高频成分进行信
波信号的时间差。
号重构,并与未处理的原始信号做比较,加以验证。
1.2小波变换原理
小波变换方法是一种时间与频率的分析方 3试验
法口-7]。对于乒(£)EL2(R),L2(R)表示平方可积函
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