集成电路的检测方法.pdfVIP

通用测试 eneralTest 集成 电路 的检测方法 TheExaminationM ethodott‘heIntegratedCircuit 吕俊霞 (河南T业职业技术学院机电T程系河南 南刚473009) LvJun-xia(HenanPolytechnicInstitute，HenanNanyang473009) 摘 要 ：电子技术的发展 ，使集成电路的应用越来越广。那么，这对电子电路的检修与排除故障带来了 一定的 嘲难，因此，在检修 电路时，就会遇到检测集成 电路的问题．． 关键词 ：集成电路；电子元件；测量；故障 中图分类号 ：TN431．2 文献标识码 ：A 文章编号 ：1003—01072(011)03—0010—03 Abstract：Electronicstechnicaldevelopment．maketheapplicationoftheintegratedcircuitmoreandmorewideSo，thisfixsand8x— pelsto breakdownto the checkoftheelectronicselectric circuitand wiltbring a certaindifficulty，therefore，whliechecking to fix electriccircuit，wilImeetaproblem ofexaminetheintegratedcircuit Keyw ords：Theintegratedclrcu fhee{ectronlcs e；breakdown CLCnumber；TN431．2 Documentcode：A ArtielelD：1003—0107(2011)03-0010—03 1引言 以下或小 j-=10001＼门电路。 d．超大规模集成电路(、_IsI)及系统H-片(soc)：这种 电路 内 集成电路Oc)足利用半导体 I艺和薄膜T 将一些晶体管、 部集成元件在 100000以 }或 10000个门电路以}。 电阻、电容、电感 以及连线等制作在同一块硅片 ，成为具仃特 定功能的电路 ，并封装在特定的管壳中。集成电路 分 件 (3)按制造 I艺，分 M()S电路(含 NMOS、PMOS和 CMOS)， 双极型 极管电路，混合电f薄膜电路 、厚膜电路 、混合电路)。 相比， 有体积小、重请轻 、外部引线及焊点少、成本低 、耗电少、 安装调试方便、可靠性高和电气性能优 良等突m优点。 (4)按封装形式(外形结构)，有扁平陶瓷式 、圆形金属式 、单 随着电予技术的迅速发展 ，集成 电路的集成度越来越高， 列直插式、双列直插式、双列扁平式 、四列直插式等。 集成tU路的引m脚越来越多，这对丁电子 电路的检修 j排除 网形金属外封装这种形式适用于大功率集成电路 。 故障带来r一定的 难。 电路 }『J集成电路坏r，就会H；现各 扁平陶瓷封装这种形式稳定性好 ，体积小。 种各样的故障，所以在检修集成电路时，不叮避免地会碰~rJx~