X-射线荧光光谱法测定二氧化钛微量元素标样的制备与探讨.pdf

第43卷第2期 涂料工业 V01．43No．2 2013年2月 PAINTCOATINGSINDUSTRY Feb．2013 X一射线荧光光谱法测定二氧化钛 微量元素标样的制备与探讨 李化全1”，郭传华3 (1．山东东佳集团研发中心，山东淄博255200； 2．山东理工大学化工学院，山东淄博255100；3．淄博市质检所，山东淄博255100) 摘要：测定二氧化钛中微量元素的过程中，大多采用x一射线荧光光谱法(XRF)，同时在国家没有标准物质的 前提下，都采用加入法建立仪器标线，从而容易造成元素状态与实际样品间存在差别，如何建立二氧化钛中微量元素 的测量的标样应该是业内的一个关键课题，本研究旨在从仪器理论和标样制备方面阐述其机理，以促进二氧化钛质量 的提高和行业进步。 关键词：X一射线荧光光谱法；二氧化钛；标准样品；元素；测定 630．7+2 中图分类号：TQ 文献标识码：A 文章编号：0253—4312(2013)02—0056—03 ofStandardfor Fluorescence Preparation SampleX——ray Spectrometric DeterminationofTraceElementsinTitaniumDioxide Li Chuanhua3 1一，Guo Huaquan Jia 255200，China； (1．ShandongDongGroupTechnologyCenter，Zibo，Shangdong InstituteChemical 255 100，China； 2．ShandongUniversityofTechnologyof Technology，Zibo，Shangdong 3．Zibo 255 MunicipalQualityInspectionInstitute，Zibo，Shangdong100，China) oftraceelementsintitanium fluorescence Abstract：Indetermination dioxide，the X—ray spectrometric methodhasbeen used．Butthe isthatthereis nostandard addition commonly keyproblem sample，only iSusedtoestablishthecalibration wasthentocausethedifferencebetweentheelement process curve，which stateandreal iSa issuetoestablishthestandardfortraceelementsmeas— samples．Therefore．itkey