现代材料测试技术试卷试题二.docVIP

函授站 大连 学 号 姓 名 专 业 12级 本科 冶金 工程 东北大学继续教育学院 《现代材料测试技术》试卷 本科 A卷闭卷□开卷√ （2012——2013学年第二学期） 题号 一 二 三 四 五 六 七 总分 得分 一．填空题（每空1分，共28分） 显微镜的主要组成部分有（ ）（ ） （ ）（ ）。 测量显微镜的实际放大倍数一般用（ ）。 ?显微硬度计主要由（ ）（ ）（ ）（ ）等四部分组成。 4.电子数与样品作用产生很多有用信号，现在被用于电子显微分析的主要是（ ）（ ）（ ）（ ）（ ）。其中用于扫描电镜的是（ ）（ ）。 5. 晶体有一个重要的特性叫作“色散率”，即某一晶体分开（ ）的能力。 6. 材料性能主要决定于其（ ）、（ ）、（ ）。 7. 透射电子显微镜的结构分为（ ）、（ ）和（ ）。 8. 入射Ｘ射线束被试样散射，结果发生两个过程（ ）和（ ）。 9. 在大部分商品型WDX光谱仪上使用的探测器可以分为两类：（ ）、（ ）。 10. PET是对（ ）最敏感的一种晶体。 二．判断题（10分，一题1分） 1. X射线表现为波动性。 2. X射线的波长范围为100A～200A。 3. 玻璃珠熔融时试样中不得含有金属和碳化硅等。 4. 将分光系统抽成真空的目的是减少空气对荧光X射线的吸收。 5. 对新的X射线管或使用后放置了一段时间后的X光管需进行老化试验，以免X射线管 损坏。 6. 基于不同元素特征波长不同的衍射角而加以检定的叫能谱仪。 7. 分析硫时用的探测器是闪烁计数器。 8. 正比计数管中CH4作用是计数。 9. X射线的波长越短，其能量越小。 10. 根据布拉格公式，短波长的高次线会同长波长的一次线重叠。故要用波高分析器除去此 短波长高次线。 三．选择题（10分） 1.X荧光分析用检测器有 。 A.半导体探测器 B.盖格计数管 C.光电倍增管 D.闪烁计数管、流气正比计数管 2.通过选择 ，使干扰脉冲与分析谱线脉冲分离。 A.晶体角度 B.入射狭缝调节 C.基线道宽 D.出射狭缝调节 3.由于X射线管子 等原因，故不宜多储备。 A.老化 B.氧化 C.潮解 D.漏气 4.X射线的特征谱线来自原子 的跃迁。 A.内层电子 B.中子 C.电荷 D.外层电子 5.二次X射线是以 为激发源而激发产生的。 A.电子 B.一次X射线 C.原子核 D.电火花 6.标准化试样要求 。 A.已知准确的含量 B.适当含量C.适当含量、长期稳定、均匀D.短时间内能保存 7.波长色散X射线荧光光谱仪上，除X射线管区外， 也需冷却。 A.分光晶体 B.探测器 C.光管夹套 D.脉冲高度分析器 8.莫塞莱定律为，其中λ为 。 A.特征谱线的波长 B.原子系数 C.屏蔽常数 D.常数 9.已知X射线管操作在100kV，那么相应的连续辐射最短波长是 。 A.0.248 B.0.456 C.0.124 D.0.062 10.已知能量分布图Kα的峰半高宽为120，最大波幅为600，则计数器分辨率为 。 A.20.0 B.40.0 C.10.0 D.30.0 四．简答题（12分，一题4分） １. 简述连续X射线光谱的产生 2. 什么叫“荧光产额”？ 3. 扫描电镜对试样有哪些要求？ 五。问答题（40分，一题10分） 1. 扫描电镜工作原理是什么？ 2.扫描电镜的分辨率受哪些因素影响，用不同的信号成像时，其分辨率有何不同? 3.二次电子是怎样产生的？其主要特点有哪些？二次电子像主要反映试样的什么特征？ 4.概括叙述光谱仪工作优点有哪些？ 东北大学继续教育学院《现代材料测试技术》试卷 2