自动控制原理课件 高红霞2014ghx第七章 根轨迹串联校正（一）.pptVIP

第7章 线性控制系统的校正 根轨迹法设计串联校正 一、为什么要进行系统校正？ 7.1 引言：分析和设计 系统分析是指在系统结构和参数已知的情况下，建立系统模型，利用前面各章节所介绍的时域法、根轨迹法和频率法来分析系统的稳定性，计算动、静态性能指标，并研究系统性能与结构和参数之间的关系。 系统设计则是按控制系统的运行要求，提出各项期望性能指标，然后根据被控对象的实际情况，合理地选择控制方案及结构形式，综合确定参数和选择元器件，通过仿真和实验，建立起能同时满足动、静态性能指标的实用系统。 7.1 引言：设计的难点 控制系统设计要比其分析更为复杂 首先，设计问题的答案往往并不唯一，通常可以采用多种不同的控制方案来满足给出的控制要求； 其次，在选择系统结构和计算参数的过程中，很容易出现相互矛盾的情况，此时需要针对要求提出折衷方案； 不管是控制方案的优化选择，还是折衷方案的评价调整，都需要综合考虑众多因素，既要考虑技术要求，又要考虑经济性、可靠性、安装工艺、使用环境和能源等问题，还要考虑提出的系统（或某些环节）在物理上或技术上是否能实现，因而远比系统分析复杂。 7.2 校正的基本概念：固有系统和校正装置 固有系统:在具有部分控制器功能的放大元件、广义被控对象和传感器已固定时，这些元件或缓解构成最基本的控制系统,称为固有系统。固有系统中除放大器的放大系数可调外,其余参数在设计过程中往往是不变的,故又称为不可变部分。G0（s） 校正装置:固有系统性能较差,难以满足对性能指标的要求,必须在系统原有结构基础上引入新的附加环节(校正装置)以作为同时改善系统稳态性能和动态性能的手段。这种用添加新环节去改善系统性能的过程称为对控制系统的校正。 GC（s） 校正后：G（s） 固有部分 二、怎样校正？ 实现校正装置 校正的期望性能指标 根轨迹串联校正的基本思想 如何设计并实现校正装置？ 7.2 校正的基本概念 控制系统的常见性能指标（表7-1） 将时域性能指标的要求转换为根轨迹的要求 如何转换？ 时域指标??ξ,ωn ??零极点分布 将时域性能指标的要求转换为根轨迹的要求。 根轨迹法串联校正设计的基本思想 用主导极点近似高阶系统 假设系统性能主要由主导极点决定,因而由性能指标要求可确定这对主导极点应有位置,进而确定ζ和ωn值； 考虑到其它极点零点的影响,对ζ和ωn适当修正,并留有余地。 串联校正：校正装置Gc(s)与广义被控对象Gp(s)相串联位于控制系统的前向通道中。 7.2 校正的基本概念 常用校正装置按其特性可分为：超前校正、滞后校正、滞后-超前校正。 1、 超前校正 串联超前校正：增加一对开环零、极点(-1/T,-1/αT),且零点比极点更靠近坐标原点，即零点起主要作用。 超前：相角超前 7.2 校正的基本概念 1、 超前校正 超前：相角超前 加入串联超前校正，使根轨迹形状改变,向左移动,以增大系统的阻尼率和无阻尼振荡角频率,从而有效改善动态性能。 7.2 校正的基本概念 2、滞后校正 串联滞后校正：增加一对开环零极点(-1/T,-1/βT),且极点比零点更靠近坐标原点。 滞后：相角滞后 7.2 校正的基本概念 2、滞后校正 当T值很大时,這对零极点就非常靠近坐标原点,即：串联滞后校正要构造一对开环偶极子。故对主导极点处根轨迹及Kg影响很小,但却使系统的开环放大系数增大D倍（提高稳态精度）。 滞后：相角滞后 7.2 校正的基本概念 3、 滞后-超前校正 超前校正使根轨迹左移,以增大系统的阻尼率和无阻尼振荡角频率,从而有效改善动态性能。 滞后校正环节(开环偶极子)提高稳态精度。 7.4.1超前校正的根轨迹法设计 （1）校正前性能分析 画出根轨迹如右图所示。 计算期望的主导极点位置： 瞬态：原根轨迹为通过(-1,j0)的垂线，校正前系统根轨迹不穿过阴影区域，故无法通过改变K使系统性能满足要求。 7.4.1超前校正的根轨迹法设计 校正：为使系统根轨迹向左偏移进入阴影区域可添加零点起主导作用的超前校正环节。 （2）超前校正设计 ①初选期望闭环主导极点对 稳态：校正前开环系统为I型系统，由essr=1/Kv=1/KL=0.1，可知为满足稳态误差要求，取速度静态误差系数Kv=KL10即可。 7.4.1超前校正的根轨迹法设计 ②作图法确定超前校正环节的零、极点位置 ③获得校正后开环传递函数 ④检验校正效果 注：s3远未大于5倍的?-s1?，主导极点? p1和? p2 对系统动态性能的主导作用下降。主导极点的选择应留更多裕量。 故满足稳态误差要求。 从点A向左做水平射线AB；角OAB的角平分线两侧以张角1/2?c=25.5各做一条由点A出发的射线与实轴的交点为： -3.45和-10.42。 ?=(-3.45)/(-