adc向后流水线型发展无运算放大器的设计受到关注.pdfVIP

触发器的输出(Q1，Q2， 要使用了触发器等数字电路。CMoS经常应用于半导体测试台内测试信 Q3，…)成为温度计代码。温度计 工艺的发展能缩小逆变器的延迟， 号的扭斜、延迟、周期变化，以及PLL 代码是指连续的“0”和连续的“1” 其结果，能提高用来检测被测信号 的设置时间测试等方面。 以某个点为界进行交替的代码构成 上升时间的精度。而且cMos工艺 为了测试芯片内的信号抖动， 方式。这种‘妒和“1”交替后的 的发展也可降低抖动的绝对值。 有人提出在芯片内设置Ⅱ)C。我们 输出(Q)表示被测信号的上升时 随着CMoS工艺的发展，芯片也正在研究用集成到芯片中的1DC 序。通过2进制码表示该Q值，将 内电源电压降低，元件偏差增大，传 测试∑△型ADC中的环路延迟的方 其转换成数字量输出。 统模拟电路的动作补偿会越来越难。 法。 在Ⅱ)C电路中，通常采用设置 但是，如果采用Ⅱ)C的设计方式，性 如果Ⅱ)C能满足A／D转换，就 能会随着(MoS工艺的发展而不断 DLL(delay-lockedloop)，使逆变器 需要一个可以和它匹配的、能满足 30nm 延迟不受工艺、电源、温度变化的 提高。目前，已经出现了1 D，A转换的“将数字值转换成时间的 影响，能自动调整为固定值的结 电路”。具有较高时间精度的数字 CMoS工艺、时间精度为10ps的 构。另外，已经开发出了对各个逆 TDc。而且有人提出，按照图中所示酬在数字电源电路中也是一个非 变器延迟偏差进行校正的方法。采 的方式，通过改善电路，更精确地设 常重要的技术。 用这种方式，性能主要受到逆变器／ 置延迟时间，能得到更高的时间精 Ⅱ)C中，大部分由数字电路构 延迟电路抖动的影响。 度。 成，因此可以与CMoS工艺一起发 展，并将应用于更广范的领域。 实现10ps的时闻穰度 革芯片TDC也被提上日程 在这种方法中，大部分电路主 由于Ⅱ)C具有以上特点，因此 ADC向后流水线型发展 无运算放大器的设计受到关注 随着模拟电路的低电压化发 电路结构简单、容易降低功耗、采 也都相继得到解决。这些ADC在流 展，ADc的设计潮流也正在发生着取流水线工作易于实现高速化等优 水线型ADc实用化之前就已存在， 变化。性能不受运算放大器影响的 点，因此被广泛地应用于液晶／等 因此，日本东京工业大学研究生院 ADc或使用无运算放大器架构的离子电视、数码相机及wLAN等领理工学研究部电子物理工学系松泽 ADc越来越受青睐。较有代表性的域。但是，今后驱动电压低于1V 昭教授称之为“架构回归传统”。 D 有闪存型A c及逐次逼近型 时，这类ADc将被迫让位。 闪存型ADc在高集成度方面 ADc，∑△型ADc也比以前更受 发挥着巨大的威力。它将多个转换 关注。 架构圄翔传统 器(比较器)并联，将模拟输入信 以往，在经常用于}昆合信号 闪存型ADC和逐次逼近型号和参考信号进行比较。闪存型 ADc受到关注主要是因为随着工艺 soc、精度为8位～14位、最大采 ADc用一个动作就可以判断出信 的发展，高集成度及高速工作成为 号电平，非常适于实现高速化。但 样速率为100MsPs的ADc中，流 水线型ADc占据主流地位。它具有可能，以往被认为很难的技术问题 是，想要提高精度，就