原子力显微镜的原理及应用v6.ppt

优点： 1、不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。 2、AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。 3、原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。 遭疟疾感染的人体红血球和蓝藻 AFM的优缺点 缺点： 在于成像范围太小，速度慢，受探头的影响太大。 原子力显微镜（AFM） 513101001278 李春雷 目录： 原子力显微镜的背景 原子力显微镜的成像原理 原子力显微镜的工作模式 原子力显微镜的优缺点 原子力显微镜应用 原子力显微镜成像的关键技术 电子显微镜：1938年，德国工程师Max Knoll和 Ernst Ruska制造出了世界上第一台 透射电子显微镜（TEM）。 扫描电子显微镜：1952年，英国工程师Charles Oatley制造出了第一台扫描电 子显微镜（SEM）。 至此，显微镜的分辨率达到纳米级 AFM的背景 扫描隧道显微镜（STM）： 1983年，IBM公司苏黎世实验室的两 位科学家Gerd Binnig和Heinrich Rohrer 发明了扫描隧道显微镜（STM）。应 用电子的“隧道效应”这一原理，对导 体或半导体进行观测。 原子力显微镜（AFM）： 1985年，IBM公司的Binning和Stanford大 学的Quate研发出了原子力显微镜（AFM）， 弥补了STM的不足。 AFM的背景 至此，显微镜的分辨率达原子级 原子力显微镜的构成 AFM的成像原理 盲人依靠手杖探索前方路面,获得障碍有无的信息后在脑中经过整合形成前方道路的图像。同样,在AFM中,样品表面的信息经探针收集后在计算机中形成图像。探针是AFM成像的关键部分,它由悬臂和针尖组成。金字塔状的针尖位于悬臂的末端,针尖顶端的半径为2~10nm,因而能在水平方向上获得小于1nm的分辨率。针尖和样品间的相互作用使悬臂产生弯曲,从而使照射在悬臂上的激光反射发生变化,这种微小的变化(可小到0.1nm)可经光电二极管检测。要获得样品的表面地形图,针尖需在其表面扫描以获得数据,同时通过伺服系统可控制样品的垂直移动以保持针尖和样品的作用力在预先设置的水平。针尖的上下移动情况反映了样品的表面地形。样品在垂直和水平方向上的精确位移都是由一计算机控制的压电扫描管实现的。在探针扫描样品的过程中,AFM逐行获得样品表面的地形数据并最终整合成完整的地形图。 AFM的成像原理 1探针 2微悬臂 3激光器 4 运动与控制结构 工作原理——各类针尖 工作原理——简易视图 AFM有多种工作模式 （1）接触模式（Contact Mode）：作用力在斥力范围，力的量级为10－9~10－8N。可达到原子级分辨率。 （2）非接触模式（Non-Contact Mode）：作用力在引力范围，包括范德华力、静电力或磁力等。 （3）间歇模式（Tapping Mode）。 （4）Interleave模式。 （5）力调制模式（Force Modulation Mode）。 （6）力曲线模式（Force Curve Mode）。 （1）接触式（ contact mode） （1）接触式原子力显微镜 接触式AFM是一个排斥性的模式，探针尖端和样品做柔软性的“实际接触”，当针尖轻轻扫过样品表面时，接触的力量引起悬臂弯曲，进而得到样品的表面图形。 由于是接触式扫描，在接触样品时可能会是样品表面弯曲。 经过多次扫描后，针尖或者样品有钝化现象。 特点： 优点：通常情况下，接触模式都可以产生稳定的、分辨率高的图像。 缺点：不适用于研究生物大分子、低弹性模量样品以及容易移动和变形的样品。 （2）非接触式（non contact mode） （2）非接触式原子力显微镜 在非接触模式中，针尖在样品表面的上方振动，始终不与样品接触，探测器检测的是范德华作用力和静电力等对成像样品没有破坏的长程作用力。 需要使用较坚硬的悬臂（防止与样品接触）。 所得到的信号更小，需要更灵敏的装置，这种模式虽然增加了显微镜的灵敏度，但当针尖和样品之间的距离较长时，分辨率要比接触模式和轻敲模式都低。 特点： 优点：由于为非接触状态，对于研究柔软或有 弹性的样品较佳，而且针尖或者样品表 面不会有钝化效应，不过会有误判现象。 缺点：这种模式的操作相对较难，通常不适用 于在液体中成像，在生物中的应用也很 少。 （3）间歇接触式（tapping mode） （3）间歇接触式原子力显微镜 微悬臂在其共振频率附近做受迫振动，振荡的针尖轻轻的敲击表面，间断地和样品接触。当针尖与样品不接触时，微悬臂以最大振幅自由振荡。当针尖与样