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第十一章 X射线衍射及电子衍射基础(二)
* 电子衍射 电子衍射已成为当今研究物质微观结构的重要手段,是电子显微学的重要分支。 电子衍射可在电子衍射仪或电子显微镜中进行。电子衍射分为低能电子衍射和高能电子衍射,前者电子加速电压较低(10~500V),电子能量低。电子的波动性就是利用低能电子衍射得到证实的。目前,低能电子衍射广泛用于表面结构分。高能电子衍射的加速电压≥100kV,电子显微镜中的电子衍射就是高能电子衍射 普通电子显微镜的“宽束”衍射(束斑直径≈1μm)只能得到较大体积内的统计平均信息,而微束衍射可研究分析材料中亚纳米尺度颗料、单个位错、层错、畴界面和无序结构,可测定点群和空间群。 电子衍射 电子衍射的优点是可以原位同时得到微观形貌和结构信息,并能进行对照分析。电子显微镜物镜背焦面上的衍射像常称为电子衍射花样。电子衍射作为一种独特的结构分析方法,在材料科学中得到广泛应用,主要有以下三个方面: (1)物相分析和结构分析; (2)确定晶体位向; (3)确定晶体缺陷的结构及其晶体学特征。 电子衍射和X射线衍射共同点 电子衍射的原理和X射线衍射相似,是以满足(或基本满足)布拉格方程作为产生衍射的必要条件。 两种衍射技术得到的衍射花样在几何特征上也大致相似:多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环,单晶衍射花样由排列得十分整齐的许多斑点所组成,而非晶体物质的衍射花样只有一个漫散的中心斑点 衍射花样 NiFe多晶纳米薄膜的电子衍射 非晶态材料电子衍射图的特征 电子衍射和X射线衍射不同之处 由于电子波与X射线相比有其本身的特性,因此电子衍射和X射线衍射相比较时,具有下列不同之处: 首先,电子波的波长比X射线短得多,在同样满足布拉格条件时,它的衍射角θ很小,约为10-2rad。而X射线产生衍射时,其衍射角最大可接近。 其次,在进行电子衍射操作时采用薄晶样品,薄样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向延伸成杆状,因此,增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会,结果使略为偏离布格条件的电子束也能发生衍射。 选区衍射 选区衍射就是在样品上选择一个感兴趣的区域,并限制其大小,得到该微区电子衍射图的方法。也称微区衍射。 a.光阑选区衍射(Le Poole方式) 此法用位于物镜像平面上的光阑限制微区大小。先在明场像上找到感兴趣的微区,将其移到荧光屏中心,再用选区光阑套住微区而将其余部分挡掉。理论上,这种选区的极限≈0.5μm。 选区误差 实际上,选区光阑并不能完全挡掉光阑以外物相的衍射线。这样选区和衍射像不能完全对应,有一定误差。它起因于物镜有球差和像的聚集误差。严重时,实际衍射区甚至不是光阑所选微区,以致衍射像和微区像来自两个不同部位,造成分析错误。 球差引起的选区误差 选区光阑套住大小为A0B0的像,对应样品上AB微区的物。由于球差,衍射束与透射束不能在平面上同一点成像(如虚线所示)。从点划线所示可以看出,A0B0像来自物平面上AB微区。误差大小可用球差公式计算。 AA=BB=CSα3 单晶电子衍射花样的标定 标定电子衍射图中各斑点的指数hkl及晶带轴指数[uvw]。 电子衍射图的标定比较复杂,可先利用衍射图上的信息(斑点距离、分布及强度等)帮助判断待晶体可能所属晶系、晶带轴指数。 例如斑点呈正方形,仅可能是立方晶系、四方晶系;正六角形的斑点,则属于立方晶系、六方晶系。 熟练掌握晶体学和衍射学理论知识:收集有关材料化学成分、处理工艺以及其它分析手段提供的资料,可帮助解决衍射花样标定的问题。 单晶电子衍射花样的标定 电子衍射花样几何图形 可能所属晶系 平行四边形 三斜、单斜、正交、四方、六方、三方、立方 矩形 单斜、正交、四方、六方、三方、立方 有心矩形 同上 正方形 四方、立方 正六角形 六方、三方、立方 标定前的预先缩小范围 根据斑点的规律性判断: 1.平行四边形---7大晶系都有可能 2.矩形---不可能是三斜晶系 3.有心矩形---不可能是三斜晶系 4.正方形---只可能是四方或立方晶系 5.正六角---只可能是六角、三角或立方晶系 二、d值比较法 标定步骤: 1、按约化四边形要求,在透射斑点附近选三个衍射斑点A、B、D。测量它们的长度Ri及夹角,并根据(6-3)式计算dEi 2、将dEi与卡片上或d值表中查得的dTi比较,如吻合记下相应的{hkl}i 3、从{hkl}1中,任选h1k1l1作A点指数,从{hkl}2中,通过试探,选择一个h2k2l2,核对夹角后,确定B点指数。由{hkl}3按自洽要求,确定C点指数。附录三中列出立方系晶面夹角表。 4、确定晶带轴[uvw]。 *
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