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中央山脈西翼岩石之礦物相及岩象特徵之研究 1 2 2 江東憲 、劉佳玫 、郭欽慧 1 中國文化大學地學研究所地質組 2 中國文化大學地質系 助理教授 研究首次同時以岩石的岩象及礦物相來探討極低度至低度變質岩區的特 徵。本研究分析的地點著重於 宜蘭平原南北兩側山麓地帶岩石，分別為台七甲 沿線、清水地熱區及蘇澳地區 。 本研究分析變質砂岩結果顯示，台七甲沿線為 Type I(僅有伊萊石)及 Type II(伊萊石及高嶺石) ，清水地熱區為Type I 、Type II及 Type III(伊萊石、高嶺 石、綠泥石)和蘇澳地區為 Type II及 Type III 。Type I僅存在於變質砂岩中，當 其強度越強，表示岩石中含有越多碎屑型礦物。Type II則有變質砂岩和板岩， 當其強度越強時，表示岩石劈理越發達或者越多非自生型雲母。 Type III則只出 現於板岩，其強度越弱，岩石劈理發育程度較差，且開始發育自生性雲母。 關鍵字 中央山脈西翼、黏土礦物、岩象、伊萊石、高嶺石、綠泥石: 壹、前言 一般而言，岩象學 (petrography) 主要是利用岩石中礦物組成及其組織(texture) 來描述岩石的特徵，藉由這樣的方式能了解岩石的特徵和成因。黏土礦物是指粒 度小於 2µm ，由一種或多種黏土礦物聚集而成的結晶質之含水層狀鋁矽酸鹽 (silicate)礦物，其中鋁或矽可被鐵或鎂取代，但也常多少含非黏土礦物如石英和 長石等類摻雜其中(陳培源， 1956 、1973 、1985) 。一般黏土礦物常存在於細顆粒 的沉積岩如頁岩、泥岩和粉砂岩，和變質岩中的硬頁岩和板岩之中。 台灣本島變質岩佔 3/4 以上的面積，而且又以極低度至低度變質的硬頁岩、 板岩分布面積最廣，根據何春蓀對於臺灣的地質分區(1997) ，即所謂中央山脈西 翼，中央山脈西翼包括了雪山山脈帶和脊樑山脈帶，此地區岩性單調、地層層序 不明、分布在不同時代的化石有限及連續沉積的岩層間缺少明顯的間斷何春蓀，( 1997) 。前人藉由地球物理、地球化學、地質構造、年代(生物地層、岩石地層、 時間地層 ) 、岩性及沉積環境要釐清雪山山脈帶與脊樑山脈的之間的地層對比、 沉積環境及其構造分布。 本計畫目的在於藉由岩象學及黏土礦物組成來了解雪山山脈帶與脊樑山脈 帶的岩層於空間上所呈現的變質特徵，並以這些岩層的基本特徵來探討岩層之間 是否呈現突變或者是以連續性變化為主。 貳、研究方法 本研究分為兩部分 ，第一部分是 進行X 光繞射分析，分為三個步驟，第一 步先將岩石以垂直方式敲擊成粉末狀，並以100目篩網過篩後取 20g倒入燒杯， 加入去離子水及分散劑至液面高 10cm ，攪拌後靜置兩小時，再抽取液面上方兩 公分之黏土礦物離心，以4500rpm/ 、10 分鐘的方式取出，再製成順向薄片。其 中的兩片在分別經過乙二醇與 經550℃高溫的處理 ，其目的為在XRD圖譜表現 中有部分黏土礦物會相同無法區分，因此利用膨脹性黏土在乙二醇烘烤(60℃時) 膨脹的特性，與高嶺石在 550℃會燒失的特性 ，進行確認。第二步驟 將已製成的 順向薄片經過 X 光繞射分析，本研究使用的XRD 分析儀為SHIMADZU XRD- 6000 ，使用銅管進行X 光加速，掃描試片的角度(2-Theta)為 3-40度、掃描速度 (2θRate)為每分鐘兩度的方式進行掃描。第三步驟是將已掃描完的數據用 XRD編 修軟體 Jade-5 進行圖譜的校正以及峰值的判定，其中Filter Type 為 15個點，偵 測背景值為 1 ，背景基線點疏密度調為適中(Medium) 等條件下，進行定性分析。 第二部分 分為兩個步驟，首先為進行 光薄片製作 ，將岩石標本切至適當大 小灌膠固化後 ，再標本黏至載薄片上，待在薄片的膠固化後即可進行切割研磨至 0.03cm的動作，最後將標本蓋上蓋薄片。第二步驟為進行薄片影像分析，首先將 製成的光薄片利用偏光顯微鏡拍照記錄並利用接圖軟體 PTGUI輸出 薄片全景圖， 之後利用圖像分析軟體 IPP(Image Pro Plus)分析岩石組構。