第六章节脉冲反射法超声检测通用技术幻灯片.pptVIP

2）缺陷自身高度的测定 横波串列式双探头法： 回波位置固定不动。 底面盲区 2）缺陷自身高度的测定 端点衍射法 ：用匝门套住上下端点衍射波，读数相减即可。△H= △ W下- △W上 6.5 横波斜探头检测技术 6.5.3 缺陷的评定 4. 非缺陷回波测定 1）工件轮廓回波 2）端角反射波 3）探头杂波 4）表面波 5）草状回波 6）焊缝中变型波 7）“山”形波 6.5 横波斜探头检测技术 焊缝中变型波： 前提：αs＜αⅢ 6.5 横波斜探头检测技术 “山”形波: 6.6 影响缺陷定位、定量的主要因素 影响缺陷定位的因素 仪器的影响：水平线性、水平刻度精度 探头：主声束偏向，探头波束双峰，斜探头斜楔磨损使K值变化，探头晶片发射、接收声波指向性 工件影响 ：表面粗糙、材质、表面形状、工件边界、工件温度、工件中缺陷 操作人员影响：调仪器扫描线比例不准，测探头入射值、K值不准，定位方法不当等 6.6 影响缺陷定位、定量的主要因素 影响缺陷定量的因素 仪器、探头性能影响（频率偏差、 探头形式、晶片尺寸、探头K偏差） 耦合偏差及材质衰减测量偏差，传输损失等 工件几何形状和尺寸（曲率变化要补偿） 缺陷的影响（ 缺陷的形状、方位与入射波夹角、指向性、表面粗糙度、性质、位置等） 2mm不规则冲坑（0.8λ），λ=2.4mm，倾斜入射为0°的1/5，粗糙度为1/3~2λ时反射特性相同。 6.7 检测记录和报告 检测记录 应满足工艺卡、标准和本单位技术文件要求，还应满足签发检测报告要求。 检测报告 应满足标准、法规和技术文件要求。 往年考题举例 1、对于表面粗糙的缺陷，当声波垂直入射时，缺陷回波波高随粗糙度的增大而下降。（ O ） 2、纵波垂直法检测时，由于侧壁干涉的结果，位于侧壁附近的缺陷，在靠近侧壁检测时回波波幅高，远离侧壁检测时回波波幅低。 （ X ） 3、以下关于缺陷自身高度测定的叙述，错误的是：（ B ） A、横波端角反射法只能用于测试下表面开口缺陷高度； B、6dB测高法适用范围广，测量精度高，且简便易行； C、端部最大回波法的测量误差与探头K值有关，当K＝1.0时误差较小； D、端点衍射波法是一种精确测量缺陷自身高度的方法，其难点在于衍射波的识别。 往年考题举例 4、探头沿圆柱外壁作周向探测时，如仪器用平板试块按深度1：1调节扫描线，下面那种说法正确？ （ D ） A、显示的水平距离总是大于实际弧长； B、缺陷的实际径向深度总是大于显示； C、显示值与实际值之差，随显示值的增加而减少； D、以上都不正确。 5、以下关于61°反射波的叙述，错误的是： （ B ） A、产生61°反射时，其声程是恒定的； B、产生61°反射时，横波入射角为29°，纵波反射角为61°； C、产生61°反射时，纵波入射角为61°，横波反射角为29°； D、产生61°反射时，纵波入射角与横波反射角之和为90°。 6、画图说明从外壁沿周向检测筒体纵缝，缺陷定位与平板工件有何不同？ 6.4 纵波直探头检测技术 （3）缺陷延伸长度的测定（适用于缺陷尺寸大于声束截面时的缺陷） a）相对灵敏度法 相对灵敏度法是以缺陷最高回波为基准，使探头沿缺陷长度方向两端移动，使缺陷波下降一定的dB值，常用6dB法（半波）、 端点6dB法（半波）、 12dB法（1/4波高）、20dB法（全波消失）。 6.4 纵波直探头检测技术 b）绝对灵敏度法 探伤仪在规定灵敏度条件下沿缺陷方向移动，使缺陷波下降至规定的位置如评定线，如GB11345和JB/T4730中Ⅰ区缺陷规定降到测长线即为绝对灵敏度法。 c）端点峰值法 在探头移动过程中发现缺陷有多个高点，则将缺陷两端点最大波高处探头位置的距离作为端点峰值法指示长度。 6.4 纵波直探头检测技术 6.4.4 非缺陷回波的判别 迟到波 61°反射 三角反射回波 探头杂波 工件轮廓波 耦合剂反射 幻象波 草状回波 侧壁干涉波 其它变型波 波型转换与反射折射定律 超声波倾斜入射到平界面上的反射、折射 (a) 纵波入射； (b) 横波入射 1、迟到波 条件：探头在细长工件（板或棒）一端纵波探测，扩散声束纵波斜射到侧壁产生变型反射横波，再经反射变成纵波到达底面返回探头形成迟到波。迟到