铸件dr图像增强及工件号识别算法分析-analysis of casting dr image enhancement and workpiece number recognition algorithm.docxVIP

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铸件dr图像增强及工件号识别算法分析-analysis of casting dr image enhancement and workpiece number recognition algorithm

重庆大学硕士学位论文1 重庆大学硕士学位论文 1 绪 论 PAGE PAGE 10 1 绪 论 1.1 X 射线检测技术简介 1.1.1 X 射线检测技术的历史与发展 1895 年德国物理学家伦琴在研究阴极射线管时,发现了 X 射线。1912 年物理 学家劳厄等完成了 X 射线穿过晶体的衍射实验,证实了 X 射线和光一样也是电磁 波。X 射线与光在本质上是完全相同的,但 X 射线光子的能量远远大于可见光, 能够穿透可见光不能穿透的物体[1]。 美国物理学家 D.库利吉博士在 1912 年研制出了新型的 X 射线管,叫做白炽 阴极 X 射线管,这种 X 射线管可以承受高电压、高电流,为 X 射线的工业应用提 供了基础。美国 Watertown 陆军兵工厂在 1922 年安装了库利吉管 X 射线机,第一 次完成了真正的工业射线照相。此后,射线照相检验技术得到了迅速的发展。1930 年前后,射线照相检验技术正式进入工业应用[2]。 随着科学技术的发展, X射线成像经历了从最早的摄影干板到胶片/增感屏组 合,到现在的数字化X射线成像[3]。1962年左右,建立了完整的、至今仍在指导射 线照相检验技术的基本理论。1970年以后,图像增强器射线实时成像检验技术、 射线层析检测技术(CT技术、康普顿散射成像检测技术)等发展迅速[2]。1981年 日本富士公司推出数字化X射线成像技术(ComputedRadiograph,即CR),采用影像 板IP(Image plate)代替传统的胶片,再把存储在IP上的X射线通过激光扫描转化 成电信号,最后进行数字图像处理[3,4]。到1997年,又出现了直接数字化X射线成 像技术(即DR),DR技术可以利用探测器直接将探测到的X射线信号转化为数字信 号输出,而不需要CR中的激光扫描和专用的读出设备[3,4]。到目前,已经研制出高 能数字化X射线成像无损检测系统,它能有效检测铁道货车铸钢摇枕和侧架内部的 气孔、砂眼、缩孔、疏松等缺陷, 并可应用于其他铸钢件的质量检测[5]。 1.1.2 X 射线检测的基本原理 X 射线检测是无损检测的主要方法之一,为产品质量的可靠性提供了有力的 技术保证。按照现代物理的量子理论,X 射线也是一种电磁波,具有波粒两重性, 其能量为[1]: ε = hv  (1.1) 式中 h 为普朗克常数,v 是辐射频率( Hz )。X 射线在真空中以光速沿直线传播, 不受电场或者磁场的影响;X 射线也可以发生干涉、衍射现象;X 射线是一种肉 眼看不到的射线,但它能够穿透可见光不能穿透的物体。但不是所有的 X 射线都 可以穿透,X 射线的波长不同,其穿透能力也是不一样的[1]。 当均匀强度的 X 射线束入射到物体时,因物体的吸收和散射使其强度衰减, 而它在物体各处的强度衰减与被检测物体的性质、密度、厚度、结构以及射线光 子的能量有关。结果便形成了一幅射线强度分布不一样的“影像”,并可被置于物 体后的胶片或者荧光屏等记录或者显示,以供检测。这样就可以判断物体中是否 存在缺陷。这就是 X 射线成像检测的基本原理[1,2,3]。 图 1.1 X 射线检测示意图 Fig1.1 The chart of X-ray detection 如图 1.1 所示[1,2],设阶梯上存在一很小的厚度误差,则有[1,2]: I = ID + Is  (1.2) I = ID + Is (1.3) 式中 I , I 为透射射线强度, I D , ID  是透射的一次射线强度, I , I 是透射的散射 s s射线强度。记 μ 为工件的衰减系数, I 0 为入射 X 射线的强度 s s [1,2]: ID = I 0 e I μ ( d +Δd ) (1.4) I D = I 0 e 则有 μ d (1.5) I D I D 由于, Δd 远小于 d ,因此可认为[1,2]:  = e? μΔd  (1.6) 故有[1,2]: 因此有[1,2]:  ΔI = I Is = Is D D ? I = I ? D D (1.7) (1.8) ΔI I  ? I I I ?1 e? μΔd ?1 = D D = D D = (1.9) 又已知 e x  = 1 + x( x I ID + Is 1) ,则有[1,2]: 1+ n 1+ n ΔI =? μΔd  (1.10) I 1+ n 若 Δd 是缺陷,其射线衰减系数为 μ 时,则式(1.10)就该改写为[1,2]: ΔI (μ ? μ )Δd =? I 1+ n  (1.11) ΔI I 称为“物体对比度”或者称其为“被检体对比度”。式(

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