数电实验1基本逻辑门实验.docVIP

暨南大学本科实验报告专用纸 课程名称 数字电子技术 成绩评定 实验项目名称 基本逻辑门实验 指导教师 秦岭松 实验项目编号 实验项目类型 验证 实验地点 B406 学生姓名 学号 学院 电气信息学院 系 专业 物联网工程 实验时间2016年4月12日下午?4月12日下午温度°C湿度 一、实验目的 初步了解TDS-4数字系统综合实验平台、数字万用表UT56的使用方法。 熟悉TTL中小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。 掌握TTL与非门和异或门输入输出之间的逻辑关系及输入输出逻辑电平值 二、实验器件、设备和仪器 TOC \o 1-5 \h \z 4双输入与非门74LS00 1片 4异或门74LS86 1片 TDS — 4数字系统综合实验平台 1台 数字万用表UT56 1台 PC机（数字信号显示仪） 1台 注意：PC机在实验中作为一个虚拟的逻辑分析仪使用，在本实验设备中称其为 数字信号显示仪。 芯片引脚图 14l 13l 12l 11 !0| 9 d Vcc :4B 4A 4Y 3B 3A 3Y 74LSOO 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND 21 31 4| 5| 61 71 双输入与非门Y = AB 14| 13l 12| ll| 1。| 9I 8| Vcc 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y 74LS86 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND 21 31 叫 51 61 71 异或门Y =A?B三、实验内容 异或门 Y =A?B 初步了解TDS-4数字系统综合实验平台 学习数字万用表UT56的正确使用方法。 利用数字万用表直流电压挡、实验平台WD指示灯及逻辑测试笔，弄清TDS 一4数字系统综合实验平台为我们提高的电源端+5V、接地点，弄懂信号源逻辑 电平开关K(TK11、2路单脉冲信号源功能及使用方法。 测试逻辑门的逻辑功能 ①测试4双输入与非门74LS00中至少一个与非门的逻辑功能。 与非门逻辑功能测试接线图 5VK3 K4 L1 5V 14| 13| 12| 11| 10| 9| 8 Vcc 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y S 74LS00 1A IB 1Y 2B 2y GyD GNDll2l3T~H~H6l~1~ GND KO K1 LO KO, Kl, K3, K4为拨动开关组成的逻辑电平 LO L1为LED逻辑指示灯 测试方法： 将被测器件插入实验台上的14芯插座中; 将器件的引脚7与实验台的“地（GND） ”连接，将器件的引脚14与实验台 的电源+5V连接； 用实验台提供的逻辑电平信号作为被测器件的输入信号（拨动逻辑开关可改变 器件的输入电平），即将与非门的输入端接实验台逻辑电平的输出端。 将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯输入端连接，指示灯亮表示输 出高电平，指示灯灭表示输出低电平。 借助数字万用表的直流电压档可以测出器件的输入输出逻辑电平值。 与非门的逻辑功能测试结果填入下表格中。 测试过程中思考： 如果芯片合格或完好，则输出与输入应该满足的逻辑电平关系？ 如果芯片不能满足与非逻辑关系，是否有可能判断芯片已损坏或其它问题？査 找解决。 与非门逻辑功能测试表格 输入端（输入信号） 输出端 1 (1A) (电平V) 2 (IB) (电平V) 3 (1Y) 电平（V） 电平指示灯 0. 6mV 0. 7mV 5.01 亮 4.86 0. 7mV 5.01 亮 0. 6mV 4. 88 5.04 亮 4. 75 4. 75 0. 2mV 暗 数字逻辑电路中，对于74系列TTL集成电路，合格的要求是： 输入低电平S0.8V,输入高电平2V; 输出低电平彡0.2V，输出高电平彡3. 5V。 ②测试4双输入异或门74LS86异或门的逻辑功能。测试方法和结果记录方式如 ①耍求。 提醒：养成边测量、边记录、边分析是否符合预期结果的良好习惯，培养认真求 实的科学态度和工作作风，遇到问题可与同学或老师讨论，切忌抄袭实验结果。 进一步了解TDS-4数字系统综合实验平台 ①学习实验平台提供的数字信号显示仪使用方法，并利用其观察实验平台提供 的所有固定频率时钟源 12MHz、6MHz、3MHz、2MHz、1MHz、500KHz、lOOKHz 共 7 种频率的方波的波形图，并记荥3MHz、2MHz、lMIlz三种频率的方波的波形图。 ②利用数字信号显示仪，观测与非门和异或门的控制特性。观测方法如测试原理 图所示，记录输入、输出波形，并对波形进行分析。分析芯片是否满足所应有的 逻辑功能，判断芯片好坏，且更深入地体会门电路的门控作用。 测试原理阁 A 1 OOKHz 方波一 3MHz方波 一 B lOOKHz 方波 A lOOKHz 方波 A 2 MHz方波 B 注： ChannelO 3MHz方波输入