全光纤位移干涉技术在SHPB.pdfVIP

第 卷 第 期 高 压 物 理 学 报 , 32 1 Vol.32 No.1 年 月 , 2018 2 CHINESEJOURNALOFHIGHPRESSUREPHYSICS Feb.2018 : / DOI 10.11858gywlxb 全光纤位移干涉技术在 实验 全 SHPB 测量中的应用* , , , , , , 翁继东 李英雷 陈 宏 叶想平 叶素华 谭 华 刘仓理 ( , ) 中国工程物理研究院流体物理研究所冲击波物理与爆轰物理重点实验室 四川绵阳 621999 : , 摘要 为直接测量霍普金森压杆加载下试样径向应变位移 提出了一种稳幅输出的新型全 。 光纤位移干涉技术 该技术采用半导体光放大器与掺饵光纤放大器的组合对来自试样表面的 。 , 反射光进行动态饱和式放大 理论研究表明 该新型全光纤位移干涉仪能够输出振幅稳定的 , 。 , 干涉信号 消除试样表面反射光强变化对位移测量精度的影响 实验结果表明 新型全光纤位 移干涉仪能够实现对霍普金森压杆加载下试样弹性应变和塑性应变的高精度非接触测量。 : ; ; ; ; 关键词 DISAR分离式霍普金森杆 掺饵光纤放大器 半导体光放大器 应变 中图分类号: ; 文献标识码: O521.3O384 A ( , ) 、 分离式霍普金森压杆 SlitHokinsonPressureBarSHPB加载下材料应力 应变一直是构建材 p p [] 1 , 料本构方程研究的基本内容 目前常通过测量粘贴在压杆表面的应变片信号计算材料所承受的应力 。 , 和应变 在一维应力条件下入射杆经受的应力可以等同于待测试样的应力 但通过入射杆和透射杆上 , , 应变片信号计算的应变却并不完全与试样真实应变相同 尤其是当试样发生弹塑性变形后 分别精确测 。 量试样的弹性应变和塑性应变对于提高材料本构方程的精度至关重要 由于高应变率加载下待测的试