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                               第帝文献综述 
器件结构尺、』和杂质分布的没计后,通过数值技术列器件的性能做出定量预计 
给出器件内部电位、电场强度、载流子浓度等物理量的分布图象,进而求出相应 
 的端特性。,琶无疑叫,器件模拟工具的出现和发展使得设计工作者在减少研制费 
用、缩短设计周期的同时,又获得更好的器件设计t方案,目.可以为器件设计提供 
更深层次的信息,为集成电路采用新技术、新工艺和提高成品率提供更深层次的 
物理依据。 
    可以用下面所示方框图米表示器件模拟的作用。随着器件模拟软件的不断成 
熟和商品化,它同时也成为器件物理、电路特性研究和优化设计的重要工具。 
                                                                    物理鼙在器 
  结构及掺杂 
                                                                    俐。内的分布 
    器什Jt寸                     器件模拟器 
                                                                    端口电学特 
   端口偏置 
                                                                    性 
                         翻1—1器件模拟的功能方框图 
    为了进行电路模拟,必须先建立电路各元器件的模型,也就是对于电路模拟 
程序所支持的各种冗器件,在模拟程序中必须有相应的数学模型来描述它们,即 
能用汁算机进行运算的计算公式来表达它们。 
      个理想的兀器件模型,应该既能正确反映元器件的电学特性又适宜于在计 
算机上进行数值求解。一般来讲,元器件模型的精度越高,模型本身就越复杂 
所要求的模型参数个数也越多;这时计算时所占内存量增大,并导致计算时间的 
增加。反之,如果模型过于相糙,会导致分析结果的不可靠。因此所用元器件模 
型的复杂程序要根据实际需要而定。如果需要进行元器件的物理模型研究或进行 
                            第章义I戢综述 
单管设计,  ’般采用精度较高和复杂程度较高的模型,甚至采用以求解半导体器 
件基本方程为手段的器件模拟方法:对于一般的电路分析,特别是分析规模较大 
 的电路时,应尽可能采用能满足一定精度要求的简单模型(在电路模拟程序rr『所 
采用的模型常称为compact模型)。 
    电路模拟的精度除r取决于器件模型外,还苣接依赖于所给定的模型参数的 
数值是甭『F确。因此希望器件模型中的各模型参数有较明确的物理意义,希望各 
个模型参数与器件的工艺设计参数有直接的联系,或者能以某种测量方法测量出 
来。 
    目前构成器件模璀的方法有两种:一种以元器件的工作原理为拱础,从元器 
件的数学方程式m发,此时得到的器件模型及模型参数与器件的物理工作原理有 
密切的关系;另 种是从元器件的电学工作特性出发,把元器件看成一个“黑盒” 
从测量其端点的工作特性来构成模型,因而不涉及元器件的物理机理。 
 §1.3 
     Poole-Frenkel效应 
                                           5 
    众所周知,在高电场F绝缘体(电场强度超过lo 
                                             V/cm)和半导体(电场强 
度为几千个V/cm)材料的电子导通率(electrical 
                                         conductivity)会增加,最后导 
致击穿。根据Poole定律,这种增加可以近似表达为: 
                               仃=仃oP“                         (1-1) 
这种1‘I电场兀火的导通率增K说明,存强电场F自由电子的数目发生了增加,而 
不是由于电子的辽移率(mobility)发生了增强。 
    E述现象就可以简单地解释如下:当一个原子电离后,电子便在周罔呵极化 
                            第一章文献综述 
周围极化的原子所掩蔽(screened),则电子的电离能(ionization 
                                  
                
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