数字系统测试与可测性设计试验参考指导书ATPG应用.docVIP

《数字系统测试和可测性设计》 试验指导书（二） 试验老师： 4月9日 试验名称和目标 试验名称：ATPG应用 试验目标：了解Mentor企业FastScan-(ATPG生成工具)业界最杰出测试向量自动生成工具。了解测试多种基准电路标准输入格式，利用FastScan工具生成测试向量。深入了解单固定故障模型相关概念。 II．试验前预习及准备工作： 充足了解课堂上学习故障模型相关概念。 Mentor企业测试相关工具介绍 缩略语清单： ATPG ：Automatic Test Pattern Generation ATE ：Automated Test Equipment BIST ：Built In Self Test CUT ：Chip/Circuit Under Test DFT ：Design For Testability DRC ：Design Rule Checking PI ：Primary Input PO ：Primary Output 组合ATPG生成工具FastScan FastScan是业界最杰出测试向量自动生成（ATPG）工具，为全扫描IC设计或规整部分扫描设计生成高质量测试向量。FastScan支持全部关键故障类型，它不仅能够对常见Stuck-at模型生成测试向量，还可针对transition模型生成at-speed测试向量、针对IDDQ模型生成IDDQ测试向量。另外FastScan还能够利用生成测试向量进行故障仿真和测试覆盖率计算。 另外，FastScan MacroTest模块支持小规模嵌入模块或存放器测试向量生成。针对关键时序路径，Fastscan CPA模块能够进行全方面分析。 关键特点：?支持对全扫描设计和规整部分扫描设计自动生成高性能、高质量测试向量；?提供高效静态及动态测试向量压缩性能，确保生成测试向量数量少，质量高；?支持多个故障模型：stuck-at、toggle、transition、critical path和IDDQ;?支持多个扫描类型：多扫描时钟电路，门控时钟电路和部分规整非扫描电路结构；?支持对包含BIST电路，RAM/ROM和透明Latch电路结构生成ATPG；?支持多个测试向量类型：Basic,clock-sequential,RAM-Sequential,clock PO,Multi-load;?利用简易Procedure文件，能够很方便地和其它测试综合工具集成；?经过进行超出140条基于仿真测试设计规则检验，确保高质量测试向量生成；?FastScan CPA选项支持at-speed测试用路径延迟测试向量生成；?FastScan MacroTest选项支持小规模嵌入模块或存放器测试向量生成；?FastScanDiagnostics选项能够经过分析ATE机上失败测试向量来帮助定位芯片上故障；?ASICVector Interfaces选项能够针对不一样ASIC工艺和测试仪来生成测试向量；最新ATPG Accelerator技术能够支持多CPU 分布式运算；?智能 ATPG教授技术简单易用，用户即使不懂ATPG，也能够由工具自动生成高质量测试向量； ?支持32位或64位UNIX平台（Solaris,HP-PA)及LINUX操作平台；FastScanATPG步骤 由上图可知，在开启FastScan时，FastScan 首先读入、解释并检验门级网表和一个DFT库。假如碰到问题，FastScan会退出并公布一个消息。假如没有碰到问题，FastScan直接进入到配置(Setup)模式。在配置模式，能够使用交互方法或使用Dofile批处理方法，来建立相关电路和扫描基础信息，和指定在设计展平(flattening)阶段时影响生成仿真模型条件。完成全部配置后，退出配置模式就直接进入到DRC检验阶段，进行DRC检验。假如检验经过，那么直接进入到ATPG模式。进入ATPG模式后由上图可看出，有四个过程：生成错误列表，生成测试模式，压缩测试模式和储存测试向量。 FastScan输入需要以下多个文件：带Scan chain 电路网表，库描述文件和FastScan三个控制文件(*.dofile，*.testproc，Timplate)，下面分别进行具体解释。 1.电路网表(*.v) 已经带有扫描链Verilog格式网表。 2.库描述文件(fs_lib) 用于连接厂家提供Mentor模型库。 3.timeplate文件 timeplate文件描述了ATPG向量中各时间点(输入跳变点，输出取样点，时钟沿位置，周期等) timescale 和测试过程文件(procedure file)文件名，能够依据需要加以修改。 FastScan是以事件为基础。其时序模型是基于