残留DC测定装置、残留DC测定方法及残留DC测定程序与流程.docxVIP

PAGE PAGE 1 残留DC测定装置、残留DC测定方法及残留DC测定程序与流程 残留dc测定装置、残留dc测定办法及残留dc测定程序技术领域1.本发明涉及对液晶显示器等显示装置中产生的残留dc举行测定的技术。背景技术：2.已知在液晶显示器中，假如长时光显示相同的图像，则发生图像烧灼(例如参照非专利文献1)。在非专利文献1中，解释了该图像烧灼与残留dc有很强的关系。作为对残留dc电压举行测定的办法，已知闪耀消退法(例如参照非专利文献2)。闪耀消退法普通而言，是针对液晶面板施加压力(温度、热)，其后施加对称的沟通信号，对为了消退所产生的闪耀而施加的偏置电压举行测定的办法。但是，在非专利文献2中报告了：因为在闪耀消退法中难以实现测定的自动化，因此存在有时测定结果按照测定者而不同的课题。在非专利文献3中，记载了对试样施加不同的dc电压压力之后的闪耀值的时光性变幻。即，在非专利文献3的图11中，表示了闪耀量随着时光而变幻。3.近年来，作为实现大视野角且高辨别率的高性能的液晶显示器的手段，广泛用法边缘电场开关方式的液晶。但是，该液晶材料的残留dc大，因此存在简单发生图像烧灼的问题。因此，对残留dc举行测定的须要性日益提高。4.但是，为了对残留dc举行测定，为了向液晶单元施加偏置电压，需要对液晶显示器举行分解并将布线衔接至液晶单元。因此，针对组装已大致完成的液晶显示器，即使例如希翼在检查工序中查明残留dc，也无法向液晶单元施加偏置电压，因此无法用法闪耀消退法。同样，针对组装已大致完成的液晶显示器，也无法像上述非专利文献3那样向液晶单元施加不同的dc电压来查明闪耀值的差异。于是，针对工厂中的组装已大致完成的液晶显示器等显示装置，也希翼能够对残留dc举行测定。5.现有技术文献6.非专利文献7.非专利文献1:yuji nakazono，etc.“evaluation of residual dc of lc cell”，proceedings of 5th asian symposium on information display，asid99，1999，p.51?548.非专利文献2:井上胜等著《誘電吸収法による残留dc電圧測定(フリッカー消去法と的相関)》(基于介电汲取法的残留dc电压测定(与闪耀消退法的相关性))，液晶研究会讲演预稿集，普通社团法人日本液晶学会，1997，23(0)，p.216?2179.非专利文献3:h.j.park，etc.“analysis of ips mura，image?sticking and flicker caused by internal dc effects”，(美)，sid 03 digest，2003，p.204?207技术实现要素：10.本发明是鉴于上述的状况而做出的发明，其目的在于，提供在不举行分解就无法衔接布线的显示装置中也能够简便地测定与残留dc有相关性的值的残留dc测定装置、残留dc测定办法、残留dc测定程序。11.为了实现上述的目的，反映了本发明的一个方面的残留dc测定装置接受从显示装置出射的光并输出与受光光量对应的受光信号，使所述显示装置显示闪耀测定用图像，取得在所述闪耀测定用图像的显示中被输出的所述受光信号，基于取得的所述受光信号对所述显示装置的闪耀值举行测定并作为初始闪耀值保存至存储部，接下来，使所述显示装置以规定的显示时光显示规定的显示图像，假如经过了所述规定的显示时光，则再次使所述显示装置显示所述闪耀测定用图像，取得在所述闪耀测定用图像的显示中被输出的所述受光信号，基于取得的所述受光信号对所述显示装置的闪耀值举行测定并作为事后闪耀值保存至所述存储部，通过所述存储部中保存的所述事后闪耀值和所述初始闪耀值的运算，计算闪耀变幻量，作为表现所述残留dc的指标值。12.通过发明的1个或者多个实施方式给出的优点以及特征，按照以下给出的具体解释以及附图得到充分理解。这些具体解释以及附图仅作为例子给出，其意图不作为本发明的限定性的定义。附图解释13.图1是概略性地表示显示装置、残留dc测定装置的电结构例的框图。14.图2是概略性地表示残留dc测定装置的光学系统的图。15.图3是概略性地表示残留dc测定装置对显示装置的残留dc测定状态的图。16.图4是概略性地表示显示部中的测定位置的详细性的一例的图。17.图5是概略性地表示图4所示的各测定位置的闪耀值的详细例的图。18.图6是按每个测定位置以表形式表示图5中的闪耀值等的图。19.图7是概略性地表示残留dc测定装置的动作过程例的流程图。20.图8是概略性地表示在液晶显示器上显示的疲劳图案的一例的图。21.图9是概略性地表示在显示