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asme规范与asme规范射线篇的比较 随着国内生产的asme产品越来越多，必须理解和理解相应的asme规范，尤其是在损伤检测方面。目前在国内JB/T 4730—2005是应用最为广泛的无损检测标准。为了更好地理解ASME规范, 现就现行的ASME规范第五卷和第八卷第一分册与我国的JB/T 4730—2005标准的射线部分进行一下简单的比较。 1 检测技术等级b级—检测等级 在JB/T 4730标准中, 射线的检测技术分为若干等级:A级———低灵敏度技术, AB级———中灵敏度技术, B级———高灵敏度技术。不同的检测技术等级对底片的黑度范围、最小曝光量、射线源到工件的最小距离、透照厚度比K值以及所选用的胶片、增感屏等参数都有明确规定。而AMSE规范则没有检测等级的划分, 但对上述各参数也都有相应规定。为了便于理解, 下面均用JB/T 4730标准AB级与ASME规范进行比较。 2 像质计放置处的厚度 JB/T 4730标准中像质计的选择依据为三个表格, 其中单壁透照像质计置于源侧用公称厚度来确定应识别的丝号, 而双壁双影透照像质计置于源侧和双壁单影或双壁双影透照像质计置于胶片侧均用透照厚度来确定应识别的丝号, 且不需要考虑焊缝余高的问题。而ASME规范不管单壁透照还是双壁透照均只根据像质计放置位置的单壁材料的标称厚度来选择应识别的丝号, 与透照厚度无关。值得注意的是, ASME规范中像质计放置处的厚度是工件的公称单壁厚度加上不超过《规范》有关篇章中允许的焊缝余高的估计值。需要指出的是, 上面提到的像质计选择均为线型像质计, ASME规范的孔型像质计在JB/T 4730标准中不使用。 对比两种标准的检测灵敏度, 可以看到存在着差别。比如, 单壁透照公称厚度15 mm、余高2mm的焊缝, 像质计置于源侧, 按JB/T 4730标准AB级选择应满足12号 (0.25 mm) 丝径, 按照ASME规范则应满足8号 (0.41 mm) 丝径。所以说单壁透照时, JB/T 4730标准AB级要求的灵敏度要更严格。但双壁透照时, 不同的透照厚度, 比较两种标准灵敏度高低的结果是不一样的, 没有规律。在小径管检测方面, JB/T 4730有专用像质计, 且像质计可以放在源侧, 也可放在胶片测。而AMSE规范没有专用像质计, 像质计只允许放在源侧。 3 底片黑度测定 JB/T 4730标准规定, AB级检测技术的射线底片黑度应满足2.0~4.0。X射线透照小径管或其它截面厚度相差较大的工件时, AB级的最低黑度允许降至1.5。在ASME规范中, 使用X射线照相并作单片观察时受检区域底片黑度应至少为1.8~4.0, 使用γ射线透照并作单片观察时黑度应至少为2.0~4.0。两种标准都规定了在多片透照时, 单片观察每张底片黑度最小可为1.3, 所有底片最大黑度为4.0。 4 次透照长度 JB/T 4730标准是根据K值来限制一次透照长度的, 所允许的K值越大, 一次透照长度就越大。而ASME规范中则没有K值的概念, 其底片黑度范围的变化规定就限制了检测的一次透照长度。ASME规范规定黑度在1.8~4.0之间, 且任意评定区域黑度不能超过所要求像质计丝径号附近区域黑度的-15%~+30%。如果一次透照长度太大, 底片两端的区域黑度就无法满足-15%的要求。 在实际透照时, JB/T 4730标准通过K值以及附录D的曲线图就可以确定透照次数和一次透照长度。ASME规范则需要经过实际的透照来确定一次透照长度。 无论是哪种标准, 限制其一次透照长度的目的都是为了保证射线检测的灵敏度。JB/T 4730着重于透照过程中对底片的类型、K值、最小焦距f 5 asme规范中f—几何不清晰度 (1) JB/T 4730的最大几何不清晰度与射线检测等级有关: 对于AB级要求是 式中b——透照部位工件上表面至胶片的距离; f———射线源至工件上表面的距离; (2) ASME规范中U 式中F———射线源尺寸; D———射线源到源侧工件表面的距离; 例如焊缝厚度为30 mm (余高为2 mm) , 按照JB/T 4730标准的AB级进行计算, 将有关数据 (即b=焊缝厚度+余高=30 mm+2 mm) 代入式 (2) 得出U 6 同时透照技术 所谓双片法, 就是在同一个暗袋中放入两张感光速度不同的胶片, 胶片之间用一张双面增感屏隔开, 同时透照。或者是两张感光速度不同的胶片分别放入两个暗袋中同时透照。 (1) 在透照大厚度工件时, 采用双胶片 (感光速度也可相同) 透照技术重叠观察, 可大大缩短透照时间, 提高工作效率。 (2) 在透照厚度差较大的不等厚对接接头时, 根据工件上较厚的部位使其记录在感光速度较快的胶片上;较薄的部位记录在感光速度较慢的胶片上, 这样得