脑沟、回的诊断与临床定位.docxVIP

脑沟、回的诊断与临床定位 在解剖学或临床图像中，对该病的图像定位、诊断和治疗具有重要的临床意义。从20世纪80年代初开始, 许多学者利用人体断层标本、CT、MRI等断层影像技术对大脑沟、回定位做了大量研究, 取得了许多具有临床应用价值的脑沟、回定位研究成果, 现综述如下。 1 脑回、脑室和周围脑室 1980年崔志谭在大脑标本上从解剖学角度研究了大脑沟、回的整体形态, 得出结论是:额上沟和额下沟不仅可起自中央前沟及其前方, 也可起自它的后方。扣带沟的前上方常见一与之平行的副扣带沟。舌回位置较恒定, 其形态随距状沟和侧副沟后端的变化而变化。 1992年王跃、姜均本取31例头颅标本平行于眦耳线做5 mm厚等距连续切片, 观察大脑语言区在各个典型轴位切面上的识别标志, 以大脑表面形态与内部骨性标志相对照, 总结了端脑皮质脑回、内部结构和周围颅脑骨性标志之间的对应关系;得出语言区与侧脑室存在良好对应关系;额叶岛盖, 颞横沟和外侧沟后支升段是区分语言区结构重要标志。这一研究结论为临床影像定位诊断打下解剖学基础。 2006年李雪鹏等取20例正常成人尸头标本, 以CM基线作层厚6 mm的横切脑片, 选取典型层面, 即在半卵圆中心及半卵圆中心上部诸层面套用一个表盘 (以半卵圆中心的中点为表盘中心) , 在半卵圆中心以下脑室和大脑基底核团出现的诸层面分别套用额枕两个表盘, 额叶的表盘中心为额叶髓质的