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G檢驗法（Grubbs法）1、計算包括可疑值在內的平均值2、計算包括可疑值在內的標準差Sx3、計算4、查P30表2-6得Gα,n(α定為0.05)5、若G計＞Gα,n，則捨棄可疑值6、重新計算、，報出分析結果分析數據的處理一、偶然誤差的正態分佈例：以分光光度法，測定礦樣中的Cu%1.691.671.671.641.581.641.671.621.571.601.591.641.741.651.641.611.651.691.641.631.651.701.631.621.701.651.681.661.691.701.701.631.671.701.701.631.571.591.621.601.531.561.581.601.581.591.611.621.551.521.491.561.571.611.611.611.501.531.531.591.661.631.541.661.641.641.641.621.621.651.601.631.621.611.651.611.641.631.541.611.601.641.651.591.581.591.601.671.681.69由於測量誤差的存在，使數據有高有低，但將其按大小排列分組（組距0.03%），可將90個數據分成9組。頻數：每個組中數據出現的次數頻率（相對頻數）：頻數除以數據總數頻率密度（概率密度）：頻率除以組距頻數分佈表分組頻數相對頻數(%）1.485~1.5151.515~1.5451.545~1.5751.575~1.6051.605~1.6351.635~1.6651.665~1.6951.695~1.7251.725~1.755∑2661722201061902.26.76.718.924.422.211.16.71.1100頻率分佈直方圖相對頻數分佈直方圖正態分佈的概率密度函數式x：測量值y：測量值出現的概率密度x–μ:偶然誤差正態分佈的兩個重要參數μ：總體均值（無限次測量數據的平均值，無系統誤差時，就是真值）表示數據的集中趨勢σ；總體標準差（無限次測量數據求出的標準差）表示數據的離散程度x-μ作橫坐標，曲線成為偶然誤差的分佈曲線
1.x=μ時，y最大:測量值集中在均值附近y2.曲線對稱:絕對值相等正、負誤差出現的幾率相等3.小誤差出現概率大；大誤差出現概率小4.x=μ時:σ↑，y↓,數據分散，曲線平坦σ↓，y↑,數據集中，曲線尖銳5.測量值落在－∞～＋∞，概率為1-σ0+σx?μ二、標準正態分佈曲線為了計算方便，橫坐標作變數代換
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