电子元器件辐照分布规律的研究.pdfVIP

全国第十二届核电子学与核探测技术学术年会论文集 ofthe12thNational Proceedings ConferenceOilNuclearElectronics＆NulearDetection Technology 电子元器件辐照分布规律研究 余彦胤 (中国工程物理研究院电子工程研究所，四川绵阳919信箱522分箱621900) 摘要：对统计分布的检验方法理论进行了分析研究，并使用典型电子元器件的辐照试验数据，对夏皮偌—威尔克 @@．(Shapim-Wilk)和!：!竖耷垫塑塾塑垦垂墅譬验收中的应用进行了相关的说明和验证。 关t词：抽样方案；辐照试验；分布 1计数型与计量法验收的特点 权衡利弊关系，有条件的可使用计量型方法进 计数型抽样方案采用计数型超几何分布 行验收试验。用剂量型抽样试验法，也有两种 具体方法。 (批量Ⅳ≤200)或二项式分布(』v≥200)LTPD (批容许不合格品率)抽样方案进行统计抽样。 一种是利用器件的失效值进行批量验收试 抽样时，根据产品提供方和使用方商定的 验，在规定失效判据下，对抽样器件进行失效剂 批量N、合格判定数c和LTPD值。 量(注量)进行测量，如果失效剂量(注量)的对 计数型验收方法的主要特点是根据一定样 数服从正态分布，则可用这种方法进行批验收 本n中出现的废品数d是否超出可接受数c决 试验，这种方法要求测量出每种器件的失效注 定合格与否。当对产品的质量指标LTPD及量，做辐照试验比较繁杂，另外误差也较大，此 AQL(合格质量水平)要求不高时，可以采用此方法不可取。 种方案。但是当要求较高时，则显得难以实用。 另一种方法是利用器件的某一个电参数进 行批验收试验。此方法要求辐照的器件电参数 例如，当要求LTPD=0．】％．Ⅳ≥2303。这在实 际中根本难以接受。解决问题的方法之一，就 或经过某种数学变换服从正态分布或对数正态 是采用计量型方法。 分布。 计量型方法的主要特点是：对产品的质量 要求体现在对质量特征(如敏感参数)等的要求 3统计分布的检验方法 上，而不是通过合格与否的产品数体现，因而可 以使样本量大大下降。在同样的要求下，与计 《数据的统计处理和解释正态性检验》规定用夏 数型方法比，样本量可以减少为几百分之一。 皮偌_威尔克检验(Shapiro-Wilk)或作图法。 这正是计量方法的优点所在。 3．1夏皮偌—威尔克检验法 当采用计量型方案时，很重要的一点是必 其方法步骤为： 须明确知道产品的质量特征所服从的分布规 1)将观测值按非降次序排列成 (1) 律。只有知道了分布，才能正确的制定出验收 X(1)≤X(2)≤．．．．．．．《X(Ⅱ) 方案，否则将谬之千里。所以验收方案是否能 式中n为样本大小，X(n)为第／7,个样品的 采用，难点不在于如何制定方案本身，而关键在 观测值。 于确定整个方案赖以存在的基础——分布。 2)按如下公式求统计量Ⅳ的值 』-1 2计量型验收方法