BGO阵列式探测器晶体开槽工艺和表面处理对能量分辨率影响的研究.pdfVIP

’98全国棱仪器应用学术会议论文集 ofthe’98NationalConference∞NuclearInstrument Proceedings ● 黄， BGO阵列式探测器晶体开槽工艺及表面处理 对能量分辨率影响的研究’ 程绍臣- 毛成生1赵书俊1矗姜福友· (中国科学院高能物理研究所，北京，100039)1(郑州大学，4500522) 本文主要介绍用于PET扫描仪的阵列式探测器中的5GO晶体开槽工艺和表面处理对探测器能量分辨 率影响的哥f究，并给出了有关的实验结果． 关键词：BGO晶体探测器能量分辨率PET 1引言 Positron 近年来，国际上正电子发射断层扫描仪(PET Emission 和应用取得了很大进展，其性能和成像质量已有很大改善．在探测器系统方面，目前大多效 PET都采用阵列式晶体探测技术，由许多单块晶体或许多不同深度开槽的大块晶体与4只光 电倍增管耦合的阵列式探测器得到了迅速发展[“”．这种探测器具有符合时间小、能量分辨 好、灵敏度高等优点且使用的光电倍增管少。造价低。适合构成多环正电子断层扫描仪．由于大 大减少了光电倍增管的数量而使PET成本大幅度降低，并且已为90年代初生产的多数PET 相机所采用。然而，带来的问题是如何提高探测器的性能指标，使PET整机性能价格比得到改 善。因此，探测器的结构设计与制作巳显得尤其重要，而探测器采用的晶体(BGO)结构排列工 艺、晶体表面处理等则是另一技术关键。BGO晶体开褶工艺及表面处理技术对探测器探测效 率影响很大，能量分辨率是衡量探测器的重要指标，它又与晶体表面处理技术相关，减少晶体 产生的光子数在传输过程中的损失、提高传输系统光的收集效率是改善探测器能量分辨率的 有效手段。包括对晶体的不同处理方法，如光的全反射、镜反射和慢反射合理地结合使用等，而 最有效的手段是通过实验比较选取最佳方案。在攀登计划B“核医学和放射治疗中先进技术的 基础研究”项耳支持下，我们开展了PET阵列式BGO晶体探测器的实验和设计研究“]，图1所 示为该探测器单元模型示意图。本文主要介绍了BGO晶体开槽工艺和表面处理技术的研究和 实验结果。 2 BGO晶体的开槽工艺 30，晶体表面进行了抛光处理。目前，国内对BGO晶体精切割的机器多为内圆刀，而内圆刀切 ·国家攀登计叠|(B)基盒资助 147 } b 得的结果不能满足我们的工 艺要求，为此，利用已掌握的 ● 处理BGO晶体的技术，进行 了晶体开槽工艺实验研究，对 开槽方法进行了多种的反复 的实验，确定了一套工艺方 棱，并进行了工艺设计．具体 方法是用带锯加白刚玉微粉 图1 6×6阵列BGO晶体探测器单元模型示意圈 ◆ 的人工开槽法，包括平台、准 30ram 直夹具、带锯和白刚玉微粉等，对48minx24mmXBOO晶体进行开梧，而且不损坏成型 晶体表面的光亮度，开得的槽表面均匀平整，槽宽在0．2～0．3mm之间，达到了阵列式BOO晶 体探测器的精度要求。由于探测器的灵敏区占整块晶体的比例因子受开槽的影响较大，而我们 的开槽宽度仅有0．2～o．3ram，使这一比例因子达到90．6％，图2为6x6BGO晶体阵