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半导体中的自旋极化输运和自旋弛豫
杨文,常凯
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1.引言
自旋电子学是--/]新必学科,它研究的魁伟常拢器件中引入电子的自旋自由度,以增强现有微
电子器件的功能,甚至产牛全新的自旋电子器件(如Datta-Des自旋场效应管).这些器件具有功耗
小、集成度高等优^,斟此这一领域里的一些基牟问题,如自旋极化输运、自旋控制、自旋弛豫和
退相十等成为热门的研究课题。
2结果和讨论
在自旋极化输远方面,U前上流的方法是Ⅲ铣磁金属 誊.岛圳一0{
或磁性半导体向半导体(成片低维结构)}土入n旋极化电r.
我们则从型论E研究了利用稀磁半甘体Cdl.Mn。Te杠卸lIl
一维IU干气(2DEG)产生自旋板化IE流的可能性。我们发现
均匀磁场下.电流自旋极化度很大,而戴漉子自旋极化度很
小.如期1所示。前者潭r朝道能级往均匀磁场下的自旋劈 ;;匿
裂导致赀米面处的态密度自旋极化度很大:当赀米能级扫过
自旋荫上(割下)的朗道能级时,电流丰要来自该朗道能级
上的电子被杂质散射,从l^J电流的自旋极化朝上(朝下),
后者则由电于自旋劈裂与费米能最的相埘太小决定:由于自
旋劈裂远小于费米能釜,因而载流丫的自旋极化接近零。返
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表明利用体系费米面处的态密度自旋极化,能产生较强的自旋极化电流。
接着,我们考虐CdhMn。Te扭卸11)维屯子气在维调制磁场(如图2中的插图所示.区域
I,11宽度为Ll-L#426衄,对应磁场强度为BI=o3T.如-_0
075T)r的低温(T-IK)自旋檄化输运性
质。幽2所示为白旋劈裂的电子盎密度,我们看到低能量处电子白旋胡上与朝F的各密度分开报明
显,而高能量处自旋朝上与朝F的忐密度几乎完全霞台。幽3所示为电导牢,载流子自旋极化麈P。、
电流的自旋极化度^随费米能级的变化。从插图可见,载流子自旋极化度随费米能级的上升而很快
尽管在E,2meV后lU子态密度的自旋极化已经趋于零。这是因为lU流不仪与费米而上的奋崭度有关,
而凡‘,费米【自J上的费米速度有关。睇2meV后IU流的自旋极化P】主要米源于币同n旋的费米速度不
州,即费米述度的自旋极化,而Er2meV时.载流子的自旋扳化对P,也有贡献。我们讳意到过左的
研究都集中在利用载流子自旋柱2化来产牛自旋极化电流,我们的这一发现意味着町以通过能带结构
的裁剪,产生自旋极化的费米速度,从而产生自旋{!乏化电流。
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