8%2f20μs冲击电流下MOV动态性能的仿真的研究.pdfVIP

8%2f20μs冲击电流下MOV动态性能的仿真的研究.pdf

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中国电子学会敏感技术分会电压敏学部第十七届学术年会论文专刊 OV动态性能的 8/20ps冲击电流下M 仿真研究 ofMOVunder SimulationResearchon Characteristics Dynamic 8/20川s Current Impulse 姚学玲。杜志航,陈景亮 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室西安710049 擅耍:本文建立了金属氧化物压敏电阻(Metal0xygen 对MOV冲击残压测量的影响规律,对相同预期短路电流10kA、20kA、30kA条件下的冲击残压进行了仿真研究,并结合 测得的MOV的冲击残压越大;对于通流容量小的试品,当源阻抗RsIQ时。冲击残压随源阻抗的增加呈现急剧增加。因此, 在对不同试品进行冲击残压标定和性能比对时,建议选用源阻抗较大(如10)以及源阻抗相同的冲击电流源。②不同预期 短路电流下测试同一试品时,不同源阻抗冲击电流下测试的冲击残压差基本一致。 关t字:8/20ps冲击电流.源阻抗,压敏电阻。预期短路电流,冲击残压,动态阻抗 researchresidual ofMetal currentwaveform Abstract:Tothe voltage OxygenVaristor(MOV)under8/20impulse different RLCcircuit,thesimulationcircuitmodelofMOVwas residual producedby impendence setup.The ofMOVwerestudiedunderdifferent currentof1OkA,20kAand30kA,andthe voltages impulse comparing with werecarriedtestMOVdifferenttest 30.2andICGtest experiments by systemincludingHaefelypsurger resultswerederived theconditionofsame short-circuit system.Theexperimental that:f1)At anticipating of for oftheresidual ofMOV.Forthesmall current.the impedanceimpulsecurrent.thehigher voltage larger ofMOV.whenthesource of currentcircuitislessthan1Q,theresidual

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