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光电工程
厂 维普资讯
第 27卷第 3期 光 电工程 Vo1．27 No．3
2000年 6月 Opto～ElectronicEngineering June 2000
文耄缩号 ：1003—501X(2000)03--0008--04
光子扫描隧道显微镜测量
折射率图象的初步研究
8一 I
， 型— 吴世法，潘 石 ~7 7 2一
(大连理工大学物理系 ，辽宁 大连 116024)
摘要 ：光子扫描隧道显微镜 (PSTM ：PhotonScanningTunnelingMicroscope)测得 的图象不仅
与彤貌有关，而且与贯穿整个样品的光学参数有关，即有可能用它获取样品折射率图象 奉文
在理想情况下运用多层薄膜理论 ，分析 了PSTM 中各种参量 (样品层折射率 ，厚度 ．入射角
巩)对折射率测量的影响。结果表明在适 当的样品厚度 ( ≤a／8)．能达到较大灵敏度，且无明
显假象，结论可供参数设王特别是样品制备时参
关键词：垄主塑堂睦垄墨丝些；堑苎±型兰 象
中图分类号：0435．1 文献标识码 ：A
A Prelim inaryStudyon theRefractiveImageObtained
withPhotonScanningTunnelingM icroscope
JIAN Guo—shu，LIU W ei，WU Shlfa，PAN Shi
(DepartmentofP}ss，DalianUniversity
of Technology，Dalianll6023一China)
Abstract：TheimageobtainedwithphotonScanningTunnelingM icroscope(PSTM )notonlyis
concernedwiththeprofileofthesample，butalsoitsoverallopticalparameters，i．e．，itispossl
bletoacquirerefractiveimageofthesamplewithPSTM ．Theinfluencesofvariousparameters
suchassamplelayerrefractivitynl，samplelayerthicknessdLandincidentangle0。onrefractivi
t、，measurementinPSTM areanalyzed．Theresultsshow thatasuitablesamplethicknessd ( ，
-
Ga／8)canattainalargersensitivityandnoobviousspuriousinterferenceimageisexisted．This
conclusioncanbeareferenceforparametersettingofsamplepreparation．
Keywords：Photonscanningtunnel
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