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201
1年全国硅基光电子材料及器件研讨会
硅基CdZnO薄膜的可见电抽运随机激射
田野,马向阳搴,项略略,杨德仁
浙江大学硅材料国家重点实验室杭州310027
幸马向阳: mxyoungOzju.edu.cn
摘要:在重掺N型硅衬底上制备了Si02/ZnO/CdO/Si02双势垒器件。通过适当地热处理,在
进行测试发现,在较小的正向电流(此时硅衬底接负压)注入下,器件在紫光区内产生随机
激射;而当注入电流增大到一定数值以后,除了紫光区内的随机激射外,器件在红光区内也
产生了随机激射。研究表明,紫光、红光区域内的随机激射峰分别来源于低Cd、高Cd掺
杂下的Cd,ZnhO薄膜。
关键词:Cd。Znl-xO薄膜,硅,随机激射
1.引言 的随机激射峰分别来源于低Cd、高Cd掺
杂下的CdxZnl。0薄膜。
自从1998年H.Cao等人首次报道关
2.实验
于ZnO薄膜和粉末的光泵浦随机激射以
硅基Si02/ZnO/CdO/SiO,双势垒器件
后u】,ZnO便一直是随机激光研究领域的
器件的制作工艺如下:(1)用标准的RCA
最重要材料阱s]oCdZnO合金因其晶格常 清洗工艺清洗的11+100避片作为衬底,
数与ZnO相近且禁带宽度可调,所以被认
其电阻率约为5×10‘垭.cm。(2)制备Si02
为是比较有前途的减小ZnO禁带宽度的
溶胶,具体工艺见文献盯1。在硅片上旋涂
材料旧。目前关于CdZnO薄膜的光抽运及
一层SiO,薄膜,100℃烘干10分钟,在02
电抽运随机激光方面的报道还很少。主要
气氛下500℃热处理2小时。(3)利用射
是由于CdO在CdO.ZnO合金系统中的固
频溅射在SiO,薄膜上沉积CdO薄膜,衬
溶度很低(在热平衡状态下大约只有
底温度为300℃。(4)在CdO薄膜上沉积
2m01%),所以很难利用简单的设备制备出
ZnO薄膜,衬底温度为150℃。在02气氛
高Cd含量的CdZnO薄膜嘲。而Cd较低
下750。C热处理1小时。(5)在ZnO薄膜
的熔沸点又使得制备基于高Cd浓度掺杂
上旋涂一层SiO,薄膜,100℃烘干10分钟,
的CdZnO薄膜电致发光器件变得十分困
在空气下500℃热处理2小时。(6)在sio,
难哺】。本文中我们利用溅射及溶胶法在重
膜上溅射约20nm厚的半透明Au电极,
掺 N型硅衬底上制备了
而在硅衬底背面上溅射约100rim厚的Au
Si02/ZnO/CdO/Si02双势垒器件。通过适当
电极。
地后续热处理.在ZnO/CdO两层中实现了
Cd浓度渐变的Cd,ZnI.xo薄膜发光层。通
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