全新概念的EMI探棒产品应用-GWInstek.PDFVIP

全新概念的 EMI 探棒 產品應用 簡化複雜的 EMI 量測與除錯 ！ 由於在消費性電子產品速度越來越快，使得產生 EMI 的測試頻率越來越高，內部元件不斷整合， 密度越來越高，但是各個國家地區的 EMI 法規要求越來越嚴，而產品生命週期越來越短，因此，如 何在開發階段能有效快速地解決 EMI 的問題，減少產品在往返認證實驗室的測試次數與時間，一套 簡單好用的工具可以協助工程師迅速的發現 EMI 的來源，大幅加速上市的時間(time to market) 。 固緯電子推出最新專利設計的 GKT-008 電磁場感應探棒，體積小，感度高，可直接感測 EMI 信號能量，不必像一般傳統近場探棒要分別使用電場和磁場探棒去量測電場和磁場… 因此用戶可以 節省產品的開發周期和認證實驗室的費用，有助於加快產品進入認證階段及上市時間。 GKT-008 EMI 近場探棒組優點 一般傳統的磁場探棒多為中空環狀，當磁場和探棒環面垂直的時候，測量數值最大， 所以在測量時需要旋轉探棒的方向來測量到最大的磁場數值。而此 GKT-008 近場探 棒具有高空間解析度與靈敏度，無需旋轉探棒的方向就可測量到最大的磁場數值而 發現主要的輻射信號源。使用此套近場探棒執行近場掃描分析之預測、偵錯時，可 有效得知電磁輻射干擾源的位置、干擾源分段頻率強度…等，提供解決電磁相容問 題的重要指標，並對失效產品下對策。 GKT-008 EMI 近場探棒組 GKT-008 EMI 探棒系列組有 4 支探棒分別為 PR-01, PR-02, ANT-04 及 ANT-05 。這 4 支探棒的天線因子已 經內建於 GSP-9330 頻譜分析儀的 EMC Pretest 功能裡。 - ANT-04 及ANT-05 EMI 近場感應探棒 ：其最大可以承受 CAT I 50Vdc 。使用 ANT-04 及 ANT-05 磁場探棒會搭配 ADB-008 直流 隔離器 DC Block ，以避免損壞頻譜分析儀及測試接收機的 RF 輸入 端 。 - PR-01 交流電壓探棒 ：其最大可以承受 CAT I / II, 300VAC 。使用 PR-01 交流電壓探棒建議搭配 GPL-5010 瞬態限幅器 Transient limiter 及 BNC(M) to SMA(F)轉接頭 ，以避免損壞頻譜分析儀及測 試接收機的 RF 輸入端 。 - PR-02 EMI 接觸式探棒 ：其最大可以承受 CAT I 50V DC 。使用 PR-02 電場探棒會搭配 ADB-008 直流隔離器 DC Block ，以避免 損壞頻譜分析儀及測試接收機的 RF 輸入端 。 全新概念的 EMI 探棒應用- 2 快速簡化複雜的EMI量測與除錯 近場量測普遍的問題 通常，在工程師進行電路檢測時，都會使用近場探棒組(Near Field Probe sets)來進行 EMI 檢測，但這樣的檢測往往都會有同樣的問題：  不容易馬上透過探棒(Probe)確認真正輻射源是哪一個電路  需要用磁場探棒與電場探棒分別量測後再憑”經驗”去找到信號源  磁場探棒會因為放置的角度或位置的關係讓量測變得更加複雜 主要會產生這樣的問題的原因在於，過去我們所熟知的近場探棒設計， 都會以磁場探棒+電場探棒的方式來區分，但往往忽略到在 EMI 檢測 時，工程師更關心的是信號的能量會如何發出 ，所以要如何快速並正確 找出主要的能量發射源，這是最重要的 。 - 探棒的尺寸 通常近場探棒會使用較大的尺寸來感應電磁場，卻無法很容易確認輻射 的來源；又或者選擇較小尺寸的探棒來測試，其靈敏度又會降低許多。 - 電場與磁場探棒差異 使用電場