利用控制图评价X射线荧光光谱法测定铁矿石成分分析系统的稳定性.pdfVIP

PTCA(PART B: CHEM. ANAL.) 001: 10. 11973/lbjy-hx201511023 利用控制图评价 X 射线荧光光谱法测定 铁矿石成分分析系统的稳定性 徐志彬1 ，李颖娜2 ，赵超1 ，王宇亮1 ，王钊1 ，吴楠1 (1.河北出入境检验检疫局检验检疫技术中心，唐山 063611; 2. 唐山学院环境与化学工程系，唐山 063000) 中图分类号: 0657.34 文章编号: 1001-4020(201日1 1-1590-04 文献标志码:B 目前，X 射线荧光光谱法(XRF)广泛应用于铁 10 型自动熔样机。 矿石中成分分析[1-3J 。铁矿石杂质元素硅、铝和磷作 1. 2 仪器工作条件 为主要的计价指标，在铁矿石贸易中具有重要的意 姥靶;功率 4 kW;分析线Kα; 管电压 50 kV; 管 义。因此，在实验室日常检测中，需对 XRF 测定铁 电流 50 mA; 晶体 PET; 狭缝 0.46; 28 为 109. 62。 0 0 (硅)， 145.02 ( 铝)， 89. 38 (磷)[IOJ 。 矿石杂质成分分析系统进行全面的质量控制，保证 分析方法的稳定性和准确性。质量控制图[4J 可对过 1.3 试验方法 程的关键质量特性值进行测定、记录、评估并监测过 按文献[10J方法进行测定。 程是否处于控制状态，已在生产和实验室检测质量 2 结果与讨论 控制中得到了广泛的应用[5 飞铁矿石检验多采用 常规质量控制图方法对分析测试系统进行监控[8 叭 2. 1 样晶分析 没有考虑质控样品或核查样品的正态性、独立性和 选用 13 个有证标准物质作为核查样品，按文献 分辨力的适宜性。本工作采用统计质量保证和控制 [10J方法，每天随机抽取一个与检测样品同时进行 图技术分析了 XRF 测定铁矿石中元素测试系统的 分析，连续分析 20 d。每次(i) 选定样品的参考值 稳定性，并全面分析了质控数据的性能，绘制了质控 (RQV ) 和测定结果的平均值(Y ) 见表 1 。表中各 i i 图，充实了实验室质量控制的方法。 元素每天测定结果的精密度(5) 按文献[