晶体的杂散阻抗对晶体测量参数的影响.pdfVIP

晶体的杂散阻抗对晶体测量参数的影响.pdf

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2008年 第 22卷 第6期 测 试 技 术 学 报 VO1.22 NO.6 2008 (总第72期) JOURNALOFTEST AND M EASUREM ENT TECHNoL0GY (Sum NO.72) 文章编号 :1671-7449(2008)06—0499—06 晶体的杂散阻抗对晶体测量参数的影响 杨 星 ’ (1.北京无线 电计量测试研究所 ,北京 ;2.计量与校准技术 国防科技重点实验室,北京 100854) 摘 要 : 仿真分析 了在 网络测量法中,直插式晶体元件的引线 电感和接触 电阻对 晶体元件参数测量的影 响,以及 晶体元件 的寄生响应对测量 的影响.分析结果表 明,接触 电阻和引线 电感对串联谐振频率的影响较 小,接触 电阻对谐振电阻的大小有直接 的影响,主模和寄生响应 间隔与晶体参数 的测量误差成正 比. 关键词 : 杂散阻抗 ;晶体元件 ;晶体参数测量 中图分类号 : TN384 文献标 识码 :A EffectsofStrayImpedanceon ParameterMeasurementofQuartzCrystalUnit YANG Jun ’。 (1.BeijingInstituteofRadioMetrology Measurement,China; 2.NationalKeyLaboratoryofMetrologyandCalibrationTechnology,China) Abstract: Effectsofstrayimpedanceandspuriousresponseon parametermeasurementofquartzcrys— talunitusing 兀networkmethodweresimulatedandanalyzed.Theresultsshow thatcontactresistors andinduced inductorshavelowereffectsonseriesresonancefrequency.contactresistorshavedirectef— fecton resonanceresistor,andthatthespacebetweenmainmodeandspuriousresponseisproportional tomeasuringerror. Keywords:strayimpedance;quartzcrystalunit;parametermeasurement 0 引 目 石英晶体元件是现代电子技术领域 中一种应用最广泛的基础元件之一.与其他频率元件相比,压电 石英 晶体有着很高的频率稳定度和极高 的品质因素.频率高度稳定的石英晶体 已被广泛应用于通信技 术、测量技术 、计算机技术等领域 ,它可为各种应用提供精确定时或时钟基准信号.晶体元件存在着杂散 阻抗 ,其必然会对精确测量晶体元件 的参数造成影响 . 1 基本测量原理 目前常用的测量方法是阻抗计法和 丌网络法 ,由于阻抗计本身测量原理的限制 ,使之难 以应用于高 频高精度晶体元件的测量;而 兀网络法,采用频率扫描的方法测量石英晶体元件的固有谐振频率,提高 了测量精度和测量频率.该方法的频率测量可达 200MHz,串联谐振频率的测量不确定度在 10 。以内, 串联谐振电阻的测量不确定度为 ±2 ~±5 .所 以丌网络法成为 IEC(国际电工委员会)推荐的石英 晶体元件 电参数测量的标准方法.国家标准 sj/z9154.1-87与 IEC60444兼容.丌网络法测量石英晶体 * 收稿 日期 :200801~17 作者简介 :杨军 (1970),男 ,高级工程师 ,博士 ,主要从事时间频率计量、时间同步与守时方面的研究 500 测 试 技 术 学 报 2008年第6期 元件参数的测量原理如图 1所示 ,图2为 型网络夹具电路 ,由两个电阻 7I型网络组成 ,在中间位置置

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