X射线物理学基础2学时演示文稿.pptVIP

X射线的衰减 X射线通过物质时，X射线强度衰减了。其中，因散射引起的衰减远远小于因吸收导致的衰减量。因此，可以近似地认为，X射线通过物质后其强度的衰减是由于物质对它的吸收所造成的。 线性衰减系数 质量衰减系数 线性衰减系数 当一束X射线通过物质时，由于散射和吸收的作用使其透射方向上的强度衰减。 X射线穿过物体时强度的减弱（dI）与原始X射线的强度I0和穿过物体的厚度（dx）成正比。即： dI＝-μI0dx 式中μ称为线性衰减系数。将该式积分得： Ix＝ I0e- μx 质量衰减系数 表示单位重量物质对X射线强度的衰减程度。定义如下：μm＝μ/ρ 式中ρ为物质的密度。 质量衰减系数与波长λ和原子序数Z存在如下近似关系： 式中 K为常数。 μm随Z和λ的变化是不连续的，其间被尖锐的突变分开。突变对应的波长为K吸收限。 吸收系数随波长的增大而增大, 且在一定区间内是连续变化的。这是因为X射线的波长越长越容易被物质所吸收。 在某些波长的位置上产生跳跃式的突变，即存在吸收限（或吸收边）或激发限。 质量衰减系数与波长的关系 物质对CuKα射线的质量吸收系数随原子序数的变化 在X射线分析中，在大多数情况下都希望所使用的X射线波长单一，即“单色”X射线。 但实际上，如上所述，K系特征谱线包括两条谱线。在X射线分析时，它们之间会相互干扰。我们可以应用某些材料对X射线吸收的特性，将其中的Kβ线过滤掉。 Cu靶的X射线光谱在滤波片前后的变化 滤波片的选择 X射线分析中，在X射线管与样品之间放一个滤波片，以滤掉Kβ线。滤波片的材料依靶的材料而定。 一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。 当Z靶＜40时， Z滤=Z靶-1 当Z靶≥40时， Z滤=Z靶-2 1.6 X射线的探测与防护 X射线的探测 荧光屏法 照相法 辐射探测器法：X射线光子对气体和某些固态物质的电离作用可以用来检查X射线的存在与否和测量它和强度。按照这种原理制成的探测X射线的仪器和各种计数器。 X射线的安全防护 X射线对人体有一定的危害。照射后吸收了一定的量，会引起不良或严重的后果。在进行X射线分析时应该注意对X射线的防护，不要让X射线直接照射人体。可用一些重金属材料，如铅，进行屏蔽。 实验过程中严格遵守操作规程。 思考题 X射线的本质是什么？ X射线产生的原理是什么？画图（X射线管）说明。 何谓连续X射线和特征X射线？试解释产生的原因。 X射线与物质相互作用可产生哪些现象和信息？ 相干散射与非相干散射有何联系和区别？ 光电效应和俄歇效应有何联系和区别？ 探测X射线的存在可有哪些方式？ 分析测试中心 刘海峰 办公室：新区综合实验楼1-86 Tel:6089509转806 E-mail:liuhaifeng@swust.edu.cn * 课程教学大纲 课程名称：X射线物相分析及应用 学分数：1 总学时：16 实践学时：4 参考书目： 《粉末X射线物相分析》，地质出版社，南京大学 《X射线分析简明教程》，地质出版社，彭志忠主编 《材料近代分析测试方法》，哈工大出版社， 常铁军等主编 考核方式： 考试占40% 课外作业占40% 实习及其作业占20% 课程基本要求 了解X射线物理学基础、晶体几何学及X射线物相分析的应用 掌握X射线衍射的概念及原理、X射线衍射强度、X射线物相分析的原理及方法 学会利用X射线衍射方法进行物相分析、晶胞参数计算、指标化等 课程内容 1. X射线物理学基础 1.1 引言 1.2 X射线的本质 1.3 X射线的产生及X射线管 1.4 X射线谱 1.5 X射线与物质的相互作用 1.6 X射线的探测与防护 2. X射线衍射方向和强度 2.1 引言 2.2 晶体几何学基础 2.3 衍射的概念与布拉格方程 2.4 布拉格方程的讨论 2.5 衍射方法 2.6 X射线衍射强度 3. 多晶体分析方法 3.1 引言 3.2 粉末照相法 3.3 X射线衍射仪 3.4 衍射仪的测量方法与实验参数 4. X射线物相分析 4.1 引言 4.2 定性分析的原理和分析思路 4.3 粉末衍射卡片的组成 4.4 物相定性分析的方法 5. X 射线物相分析的应用 5.1 物相定量分析 5.2 衍射线的指标化 5.3 晶胞参数的精确测定 实习 X射线衍射物相分析及谱图解析 1. 参观X射线衍射仪及工作过程； 2. 学习样品制备方法； 3. 学会谱图解析，掌握送样要求。 1. X射线物理学基础 主要内容 1.1 引言 1.2 X射线的本质 1.3 X射线的产生及X射线管 1.4 X射线谱 1.5 X射线与物质的相互作用 思考题 1.1 引言 在科研、生产