X射线衍射方向教程.pptVIP

掠射角θ：极限范围00～900、过大或过小会使衍射探测困难，使得反射级数 n 受到限制：因|sinθ|≤1 当 d 一定时， λ减少，n 可增大。 说明对同一种晶面，当采用短波X射线照射时，可获得较多的衍射线，即衍射花样变得复杂。 三、衍射极限条件（3） 四、布拉格方程应用 布拉格方程在实验上有两种用途。 1. 晶体结构分析 利用已知波长的特征 X射线，通过测量θ角，可算出晶面间距 d，此为结构分析(structure analysis)。 2. X射线光谱学 利用已知晶面间距 d 的晶体，通过测量θ角，从而求出未知X射线波长。即X射线光谱学(X-ray spectroscopy)。如电子探针波谱分析、X射线荧光分析，可定性、定量分析材料所含元素。 X射线光谱仪原理 X射线光谱仪的原理图。 1. X射线照射试样 S，从试样 S放出二次X射线。 二次X射线经分光晶体 C 衍射后通过计数管D进行检测，以确定2θ值，最后进行波长分析（荧光光谱仪）。 2. 若 S 为X射线管，一次 X射线照射到晶体C，则还可测出一次X射线的波长。 X射线光谱仪原理图 五、衍射方向 －－X射线的衍射方向公式。 a 为｛hkl｝晶面晶格常数、 λ为X射线波长。 将晶体晶面间距公式与布拉格方程联立，可得该晶系的衍射方向表达式。 如：立方晶系面间距 d：代入布拉格方程 表明：衍射方向决定于晶胞的大小与形状。即通过测定衍射束的方向，可测出晶胞的形状和尺寸。 第三节 X射线衍射方法 第三节 X射线衍射方法 衍射现象：只要满足布拉格方程λ＝2dsinθ时，衍射就有可能发生。 不论何种晶体衍射，其中λ与θ依赖关系是很严格的。应考虑满足布拉格方程的实验方法： 1. 连续地改变λ； 2. 连续地改变θ。 由此可派生出三种主要的衍射方法。 X射线衍射分析方法 方 法 晶 体 λ θ 劳埃照相法（Laue method) 单晶体 变 化 不变化 周转晶体法（rotating-crystal method) 单晶体 不变化 变化(部分) 粉末法（powder method) 多晶体 不变化 变 化 X射线衍射分析方法 一、劳埃法实验原理（1） 劳埃法：适用于单晶体，晶体不动，采用连续X射线照射。 由X光源、晶体、底片位置不同分：透射法和反射法两种。 底片：为平板型，与入射线垂直放置。 透射及背反射劳埃法的实验原理 一、劳埃法实验原理（2） 单晶体特点：每一（hkl）晶面只有一组；单晶体固定后，任一晶面与入射线的方位即θ角一定。 透射及背反射劳埃法的实验原理 如：某晶面(h1k1l1) →面间距d1→有一合适波长λ1的X射线发生衍射，在2θ1衍射方向产生衍射斑点P1 。 波长λ1 晶面(h1k1l1) 衍射斑点P1 一、劳埃法实验原理（3） 由照片上各斑点到中心距离 t 可计算出 2θ角（d值）。 D－－试样到底片距离。 再由 d值 可得各斑点对应的晶面；进一步可得到晶体结构、取向等信息。 D t 一、劳埃法实验原理（4） 由衍射在底片上形成了规则排列的斑点，叫做“劳埃斑” (pattern)。劳埃斑均排列成椭圆或双曲线的轨迹。 铝单晶的透射和背反射劳埃照片 分析表明：同一曲线上的劳埃斑即为同一晶带的反射。 二、周转晶体法（1） 周转晶体法： 用单色X射线照射单晶体。 周转晶体法 底片 入射X射线 晶体转轴 光学布置： 单晶体：某一晶轴或某一重要的晶向垂直于X射线； 底片：在单晶体四周围成圆筒形。 摄照：晶体绕选定的晶向（轴）旋转。转轴与圆筒状底片的中心轴重合。 二、周转晶体法（2） 周转晶体法特点： 用单色X光，靠旋转单晶体以连续改变各晶面与入射线的θ角，来满足布拉格方程。 旋转单晶体时，某组晶面在某瞬间恰好满足布拉格角，产生衍射，底片上出现一个感光点。 衍射花样：呈层状分布， 主要用途：确定未知晶体的晶体结构，是研究晶体学的主要工具。 三、粉末法（1） 粉末法：用单色X射线照射多晶体试样，由数量众多的各微晶粒的不向取向来改变θ，以满足布拉格方程。 多晶体试样：如粉末、多晶块状、板状、丝状等。 三、粉末法（2） 当单色X射线以掠射角θ射到单晶体的一组晶面(hkl)时，在满足布拉格条件下，产生衍射线OP，在照片上得到一个斑点P。 多晶体试样衍射圆锥的形成 三、粉末法（3） 衍射圆锥形成： 粉末或多晶块样：无数个晶粒和(hkl)晶面，在空间随机分布，处于不同方位，当X射线照射后，总会有足够多 (hkl) 晶面满足布拉格方程，在2