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探槽（井）原始编录重点提示 1．编录壁的选取及绘图方向： 东西向探槽： 编北壁——北高、南低或相近； 编南壁——南高、北低。 南北向探槽： 编东壁——东高、西低或相近； 编西壁——西高东低。 2．分层： （1）分层单元：复杂矿体——小于填图单元； 一般矿体——同于填图单元。 （2）分层厚度及夹石剔除厚度：按工业指标。 （3）分层主要对象：不同矿体、不同矿石类型、不同工业品级、不同岩石类型、断层上下盘矿体。 3．布样： （1）沿厚度方向连续控制矿体及直接顶底板。 （2）布样“三不”原则：不跨矿石类型、品级；不跨矿种（断层）；样长真厚不超过工业可采厚度。 （3）岩石（脉岩）剔除原则：以工业指标的剔除厚度为准、夹石薄时与低品位矿石合采贫化。 （4）样品编号：以任何时候都不至引起错混为准。 （5）布样后应及时采样，特别是刻槽样。 4．投影作图： （1）主要地质编录要素：界线、产状、样品及标本位置、导线点等按与基线的相对位置，按比例缩小描绘于坐标纸上。 （2）地质体的取舍：图上大于1mm的应绘，特殊意义的不足1mm放大绘。 （3）探槽拐弯处理： ①编录壁及基线以及槽底与编录壁的共用边，在任何时候都应连续绘制。 ②方向变大时：在拐弯处裂开槽底的非共用边（内侧边），裂开夹角等于拐弯角度。 ③方向变小时：在拐弯处断开非共用边，并切去一块同于拐弯角度大小的重叠面后，与前一导线槽底相连接。 5．投影作图原理： （1）面向编录壁，在坐标纸上选择合适位置，绘出第一基点及第一导线，每一导线起点均为0。 （2）槽壁投影：每个要素点有两个投影要素——导线读数及与导线的垂直距离。 （3）槽底投影：先将各要素点按地质走向投到壁底共用边，然后按槽壁投影方法投影。 （4）连图：分类、分地质体、分地质界线相连成图 6．描述纪录： （1）以基线为准，依次逐一记录。 （2）岩性、矿体按分层为单元描述记录：在基线中间分层时，分段描述记录；跨导线分层时，将所跨导线内的同一分层统一描述。 7．小园井编录：编录时特别注意安全！文图合一。 （1）左：投影面为规则的理想化的条形立面图，基线垂直布置，各点按槽壁投影原理绘成柱状图。 （2）右：地质现象记录于表右侧。 8．浅井编录： （1）务必据施工进度及时分段编录、采样,并绘制井底掌子面图。 （2）首选壁：与勘查线方向有关。 南北勘查线——北壁或正东壁； 东西勘查线——北壁或正东壁； 北西、北东勘查线——北西壁或北东壁。 （3）基点只有一个，布于首选壁的左上角，基线下垂，多次编录反复使用。 （4）素描图：四壁展开，各点依次水平投影到基线或它的平行边上→基线；井底正投影，同井多次编录须投绘多个相应的井底图。 （5）浅井编录特别注意安全！ 目 录 布样应在观察、分层的基础上进行。样品应沿矿体厚度方向、分段连续布置于探槽中靠近编录壁的槽底或编录壁的下部，4.3.2刻槽样布置的三不原则a.同一件样不得跨越不同矿石类型、品级b.同一件样不得跨越不同矿种或不同矿层，见图7、8。 。  7.投影作图 7.1 素描图的基本原理 通过测量槽壁及槽底上的各地质编录要素（界线、产状、标本及样品位置等）与基线的相对位置，按比例缩小后描绘到坐标纸上，成为一张真实地反映探槽中各种地质现象的槽壁、槽底展开图。 槽壁、槽底在素描图上的位置：编录壁按比例缩小后绘于素描图的上方，槽 底绘于图的下方，与槽壁之间应留1cm以上间隔（以便标注产状、样号等），槽底按正投影绘成等宽的条带状，其宽度一般为1—1.5cm；局部地段遇特殊情况，需加绘另一槽壁时，则展开投绘在槽底的下方（见下图）。 7.2 注意素描图的真实性 作图时须根据有限的特征点，参看地质体实际形态勾绘成图 （如透镜状、波状、分枝状等）。 7.3 地质体的取舍 按比例缩小后的宽度大于1mm的地质体均应素描到图上；有特殊意义的小矿体或地质现象虽不足1mm，也应适当放大比例尺表示，其方法一般是从该点引出图外作一小幅放大的素描图（见下图）。 特殊地质现象放大表示图 7.4 探槽拐点的处理 探槽方向变化的方位差小于15度时，在拐点处设基点，槽壁及槽底均可连续素描。，拐弯大于15度时，采用裂开或重叠法绘图。 a.注意：编录壁在任何时候仍都应该连续绘制（因为编录壁及基线始终是连续的），槽底与编录壁的共用边也是连续的，只是槽底裂开或重叠。 b.当拐弯方向背离前一编录导线方向时（前进方向变大），裂开槽底非共用边线，其裂开角度等于导线拐弯方位差，而槽壁连续绘图，采用裂开法素描。 c.当拐弯方向较前一编录导线方向变小时，断开槽底非共用边线，将槽底重叠，其重叠夹角等于拐弯方位差，而槽壁连续绘图，见图17。 7.5